[发明专利]一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法

说明书

本发明涉及光学复合薄膜的性能检测，具体涉及一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法。本发明提供一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法，所述光学复合薄膜包括第一基材、胶黏剂和第二基材，第一基材和第二基材通过胶黏剂复合在一起，所述检测方法包括下述步骤：(1)将光学复合薄膜用酮类溶剂浸泡；(2)将通过步骤(1)浸泡的光学复合薄膜用镊子或利器挑开一个口子，露出测试的两边，放入烘箱中熟化；(3)检测步骤(2)熟化后的光学复合薄膜的剥离强度。该检测方法主要针对热固型胶黏剂体系，在产品下线后的2小时内即可做剥离强度测试，发现性能不合格可及时做生产调整，不用等到产品最终熟化后才做测试，避免了产品出现批量性的不合格损失。

技术领域

本发明涉及光学复合薄膜的性能检测，具体涉及一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法，主要针对热固型胶黏剂体系。

背景技术

现有各类光学复合薄膜，随着应用领域的越来越广泛，生产精密程度越来越高，对设备要求也越来越高，随之产品附加值也越来越高，因此产品生产过程的零缺陷是衡量某一种光学复合薄膜最重要的经济指标。

光学复合薄膜，除非是有特殊的设计要求，一般采用热固型或热固与UV固化混合型胶黏剂进行生产，涂胶后进烘箱达到半固化状态，而后与第二放卷基材在一定的温度和压力下进行复合，复合后胶黏剂并未完成固化，根据主胶特性，反应有快有慢，因此需要在40-70℃的烘房中烘烤24-240小时不等(一天一夜到十天十夜不等)，胶黏剂熟化后对两种基材的咬合力达到充分程度后，形成一个比较理想的剥离强度。对于批量生产的光学薄膜，需要在至少24小时，甚至72小时乃至更长时间240小时后才能做测试，如果在这之后发现产品性能不合格，那损失是巨大的。而现有的检测手段，均是在严格达到熟化时间后才去测试剥离强度，一旦检测发现剥离强度不合格，存在巨大的经济损失。

发明内容

本发明的目的是提供一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法。本发明提供的检测方法主要针对热固型胶黏剂体系，在产品样品下线后的2小时内即可做剥离强度测试，发现性能不合格可以及时做生产调整，而不用等到产品最终熟化后才做测试，避免了产品出现批量性的不合格损失。

本发明采用下述技术方案：

本发明提供一种光学复合薄膜剥离强度的检测方法，所述光学复合薄膜包括第一基材、胶黏剂和第二基材，第一基材和第二基材通过胶黏剂复合在一起，所述检测方法包括下述步骤：

(1)将光学复合薄膜用酮类溶剂浸泡；

(2)将通过步骤(1)浸泡的光学复合薄膜放入烘箱中熟化；

(3)检测步骤(2)熟化后的光学复合薄膜的剥离强度。

进一步的，所述光学复合薄膜在产品下线后的2个小时内进行检测。

进一步的，所述检测方法包括下述步骤：

(1)将光学复合薄膜用酮类溶剂浸泡；

(2)将通过步骤(1)浸泡的光学复合薄膜的一端挑开一个开口，之后将光学复合膜放入烘箱中熟化；

(3)检测步骤(2)熟化后的光学复合薄膜的剥离强度。

进一步的，将通过步骤(1)浸泡的光学复合薄膜用镊子或利器挑开一个口子，露出测试的两边，之后将光学复合膜放入烘箱中熟化。

进一步的，所述检测方法包括下述步骤：

(1)取光学复合薄膜样品，将光学复合薄膜样品用酮类溶剂浸泡；

(2)将通过步骤(1)浸泡的光学复合薄膜样品的一端挑开一个开口，之后将光学复合膜放入烘箱中熟化；

(3)检测步骤(2)熟化后的光学复合薄膜样品的剥离强度。