[发明专利]一种混合结构SAR-VCO ADC

权利要求书

1.一种混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，包括：粗量化单元、细量化单元和输出单元；其中，

所述粗量化单元用于对输入信号进行量化，得到残差信号和第一量化结果；所述残差信号包括VP信号和VN信号；

所述细量化单元用于对所述残差信号进行量化，得到第二量化结果；

所述输出单元用于根据所述第一量化结果和所述第二量化结果计算最终量化结果；

其中，所述细量化单元包括：第一量化子单元，第二量化子单元和减法器子单元；其中，所述第一量化子单元用于量化所述VP信号，得到第一输出码；所述第二量化子单元用于量化所述VN信号，得到第二输出码；所述减法器子单元用于对所述第一输出码和所述第二输出码进行处理，得到所述第二量化结果；

所述第一量化子单元包括：第一采样开关、第一电压电流转换器、第一CCO电路、第一相位量化器和第一编码器；其中，所述第一采样开关用于控制输入所述VP信号；所述第一电压电流转换器用于对输入的所述VP信号进行转换，得到第一电流信号；所述第一CCO电路用于将所述第一电流信号转换为第一相位信号；所述第一相位量化器用于对所述第一相位信号进行采样量化，得到第一温度计码；所述第一编码器用于对所述第一温度计码进行转换，得到第一输出码；

所述第二量化子单元包括：第二采样开关、第二电压电流转换器、第二CCO电路、第二相位量化器、和第二编码器；其中，所述第二采样开关用于控制输入所述VN信号；所述第二电压电流转换器用于对输入的所述VN信号进行转换，得到第二电流信号；所述第二CCO电路用于将所述第二电流信号转换为第二相位信号；所述第二相位量化器用于对所述第二相位信号进行采样量化，得到第二温度计码；所述第二编码器用于对所述第二温度计码进行转换，得到第二输出码。

2.根据权利要求1所述的混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，所述粗量化单元包括：自举开关、差分电容阵列、动态比较器、逻辑电路和异步控制电路；

所述自举开关用于对所述输入信号进行采样，得到预处理信号；

所述差分电容阵列用于置位所述预处理信号后获取残差信号并保存；

所述异步控制电路用于提供驱动信号；

所述比较器用于根据所述驱动信号对保存的所述残差信号进行比较，得到所述第一量化结果；

所述逻辑电路用于根据所述驱动信号保存并输出所述第一量化结果。

3.根据权利要求2所述的混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，所述差分电容阵列为7位差分电容阵列。

4.根据权利要求2所述的混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，所述自举开关为栅压自举开关。

5.根据权利要求1所述的混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，所述第一相位量化器包括：第一触发器模块、第一异或门模块；其中，

所述第一触发器模块用于对所述第一相位信号进行采样，得到第一采样信号；

所述第一异或门模块用于对所述第一采样信号进行量化，得到所述第一温度计码。

6.根据权利要求1所述的混合结构SAR-VCO ADC，其特征在于，所述第二相位量化器包括：第二触发器模块、第二异或门模块；其中，

所述第二触发器模块用于对所述第二相位信号进行采样，得到第二采样信号；

所述第二异或门模块用于对所述第二采样信号进行量化，得到所述第二温度计码。