[发明专利]一种表面等离子体吸收增强的铟锡氧化物薄膜的制备方法在审
申请号: | 201910129844.9 | 申请日: | 2019-02-21 |
公开(公告)号: | CN109735805A | 公开(公告)日: | 2019-05-10 |
发明(设计)人: | 黄建兵;黄建明;杨敏 | 申请(专利权)人: | 苏州领锐源奕光电科技有限公司 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/24;C23C14/58 |
代理公司: | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人: | 刘计成 |
地址: | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 铟锡氧化物薄膜 表面等离子体 制备 烘烤 吸收 等离子体吸收 辐照时间控制 纳米光电子学 离子束辐照 薄膜表面 镀膜夹具 光电子学 离子束流 生长取向 石英基片 真空条件 附着性 均匀性 热稳定 镀膜 改性 沉积 轰击 应用 表现 | ||
1.一种表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一、膜料的选择:采用质量百分比例为90:10的氧化铟和氧化锡混合物作为膜料;
步骤二、基片的准备:将基片清洗干净后,放置于真空蒸发设备中的镀膜夹具上;
步骤三、铟锡氧化物薄膜的形成:在真空蒸发设备中,沉积膜料到基片上,得到铟锡氧化物薄膜;
步骤四、表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的形成:在真空蒸发设备中,采用等离子体束流的离子束辐照铟锡氧化物薄膜的表面,进行轰击得到表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜。
2.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤二中,所述基片的清洗方式为:依次采用丙酮、酒精、去离子水对所述基片分别超声波清洗10min。
3.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤三中,采用物理气相沉积法得到铟锡氧化物薄膜。
4.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤三中,在所述真空蒸发设备中,真空度为5×10-4 Pa,烘烤温度为100-200℃,薄膜的沉积速率为0.1-0.3nm/ s。
5.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:步骤四中,所述真空蒸发设备中,真空度为5×10-4 Pa,采用15mA的等离子体束流大小为,进行5-30min的轰击得到表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜。
6.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:所述基片为石英基片。
7.根据权利要求1所述的表面等离子体吸收增强铟锡氧化物薄膜的制备方法,其特征在于:所述表面等离子体吸收增强为在可见或近红外区域。
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