[发明专利]一种红外焦平面探测器的测试板及测试系统

说明书

本申请公开了一种红外焦平面探测器的测试板及测试系统，包括处理器，用于发送测试驱动信号，还用于接收并处理低压差分信号得到测试数据，其中测试驱动信号包括时钟信号；时钟扩展芯片，用于将时钟信号分别输出至多个红外焦平面探测器；模数转换器，用于对每个红外焦平面探测器输出的模拟电压信号进行模数转换，得到低压差分信号；时钟扩展芯片与任一红外焦平面探测器之间的时钟信号的走线长度均处于第一预设范围，模数转换器与任一红外焦平面探测器之间的模拟电压信号的走线长度均处于第二预设范围。本申请通过时钟扩展芯片将时钟信号扩展为多路发送至多个红外焦平面探测器，且对走线长度进行限制，以实现同时测试多个红外焦平面探测器，效率高。

技术领域

本申请涉及红外焦平面领域，特别是涉及一种红外焦平面探测器的测试板及测试系统。

背景技术

由于红外焦平面探测器的加工工艺在不同批次之间的差异，导致不同批次的红外焦平面探测器的温度系数存在差异，因此，在实际应用中需要针对不同批次的红外焦平面探测器查找合适的温度系数，以使红外焦平面探测器在整个工作温度范围内均可工作在合适的状态。温度系数的查找需要对全温区所有工作点状态进行扫描，描绘出红外焦平面探测器在全温度范围下的工作点曲线，找出能够适合全温度范围的温度系数，在应用时直接将该温度系数写入，以确保红外焦平面探测器可以工作在正常状态。

现有的技术方案都是对单个红外焦平面探测器进行全温区工作点状态扫描，全温区基本要覆盖-40～+60℃的温度范围，每隔20摄氏度一个温度点进行扫描，具体操作为，将红外焦平面探测器放置于测试板上，测试板置于高低温箱内，通过改变高低温箱的温度实现全温区的扫描。考虑到在大批量生产时，每批探测器至少要取10pcs红外焦平面探测器进行测试，而现有的测试板只能测试一个红外焦平面探测器，测试效率较低。

因此，如何提供一种解决上述技术问题的方案是本领域技术人员目前需要解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种红外焦平面探测器的测试板及测试系统，通过时钟扩展芯片将时钟信号扩展为多路发送至多个红外焦平面探测器，且对走线长度进行限制，以实现同时测试多个红外焦平面探测器，测试效率高。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种红外焦平面探测器的测试板，包括：

处理器，用于发送测试驱动信号，还用于接收并处理低压差分信号得到测试数据，其中，所述测试驱动信号包括时钟信号；

时钟扩展芯片，用于将所述时钟信号分别输出至多个所述红外焦平面探测器；

模数转换器，用于对每个所述红外焦平面探测器输出的模拟电压信号进行模数转换，得到所述低压差分信号；

所述时钟扩展芯片与任一所述红外焦平面探测器之间的所述时钟信号的走线长度均处于第一预设范围，所述模数转换器与任一所述红外焦平面探测器之间的所述模拟电压信号的走线长度均处于第二预设范围。

优选的，所述处理器，具体用于在接收到扫描信号后，生成并发送所述测试驱动信号。

优选的，所述接收并处理低压差分信号得到测试数据的过程具体为：

接收所述低压差分信号；

将所述低压差分信号解码为像素值；

利用所述像素值计算像素均值，根据所述像素均值得到测试数据。

优选的，该测试板还包括：

存储器，用于存储所述测试数据。

优选的，所述处理器为FPGA芯片。

优选的，所述存储器为DDR。