[发明专利]五轴联动机床动态与静态误差综合检测方法有效

专利信息
申请号: 201910135869.X 申请日: 2019-02-25
公开(公告)号: CN109648399B 公开(公告)日: 2019-08-13
发明(设计)人: 李迎光;郝小忠;程英豪;隋少春;牟文平 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: B23Q17/22 分类号: B23Q17/22
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 瞿网兰
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 静态误差 五轴联动机床 动态误差 精度检测 实际误差 综合检测 试件 加工精度检测 实际运动位置 成型轮廓 加工轨迹 监测分析 检测分析 试件加工 耦合 进给轴 检测 解耦 机床 参考 加工
【权利要求书】:

1.一种五轴联动机床动态与静态误差综合检测方法,其特征在于:首先在五轴联动机床加工精度检测试件的过程中,对数控系统位置环进行监测获取机床各进给轴实际运动位置,结合理论轨迹计算分析得到加工过程中动态误差引起的刀具位置误差和方向误差;然后再对精度检测试件成型轮廓面进行检测分析,得到实际误差,求得沿加工轨迹的实际刀具位置误差和方向误差;实际误差是动态误差和静态误差的耦合,最终通过对实际误差的解耦,并利用机床结构对应的逆雅克比矩阵,得到检测试件加工空间范围内的静态误差分布。

2.根据权利要求1所述的五轴联动机床动态与静态误差综合检测方法,其特征在于所述的动态误差是单轴跟随误差耦合引起的机床实际运动轨迹与理论指令轨迹的偏差,即轨迹误差;静态误差是机床部件制造和装配误差引起的几何误差在单轴方向的耦合。

3.根据权利要求1所述的五轴联动机床动态与静态误差综合检测方法,其特征在于所述的对数控系统位置环进行监测,结合理论轨迹计算得到加工过程中动态误差引起的刀具位置误差和方向误差是指对位置环进行监测,采集得到实际加工过程中机床各轴的离散位置坐标序列集合:

CMdy={Pi|Pi=(Xi,Yi,Zi,Bi,Ci),i=1,2,…,n}

其中,n为加工过程中采集得到的有效离散点位个数,Pi为离散点坐标,Xi、Yi、Zi、Bi、Ci为X、Y、Z、B、C轴机床坐标系下的位置坐标;同时,为保证轨迹信息的完备性,采集频率应高于或等于插补频率;对每一个Pi进行正向运动学变换,得到工件坐标系下只受动态误差影响的刀具位置和刀轴矢量的离散序列集合:

CWdy={pi|pi=(xi,yi,zi,ii,ji,ki),i=1,2,…,n}

式中:pi为Pi经过运动变换后的工件坐标系下的离散点刀具位姿,(xi,yi,zi)为刀位点坐标,(ii,ji,ki)为刀轴矢量;

将CWdy中刀轴矢量转换为角度量,得到:

CWAdy={piA|piA=(xiA,yiA,ziAiAiA),i=1,2,…,n}

式中:(xiA,yiA,ziA)与(xi,yi,zi)相同,(βiAiA)为表示刀具方向的前倾角和侧倾角;

分析计算得到pi在理论加工轨迹上的对应点位p′i,进而建立CWdy在理论加工轨迹上的映射集:

C′Wtheo={p′i|p′i=(x′i,y′i,z′i,i′i,j′i,k′i),i=1,2,…,n}

式中:(x′i,y′i,z′i)为pi在理论轨迹上的对应坐标,(i′i,j′i,k′i)为pi在理论轨迹上的对应刀轴矢量;

将C′Wtheo中刀轴矢量转换为角度量,得到:

C′WAtheo={p′iA|p′iA=(x′iA,y′iA,z′iA,β′iA,γ′iA),i=1,2,…,n}

式中:(x′iA,y′iA,z′iA)与(x′i,y′i,z′i)相同,(β′iA,γ′iA)为表示刀具方向的前倾角和侧倾角;

计算CWAdy和C′WAtheo两集合中对应元素的差值,即可得到工件坐标系下动态误差离散序列集合:

将机床结构对应的逆雅克比矩阵J-1乘上EWAdy中每一项,得到实际加工过程中机床各轴动态误差引起的单轴误差离散序列集合:

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