[发明专利]用于储存装置的不正常断电测试方法及设备

说明书

本发明揭露一种用于储存装置的不正常断电测试方法及设备，测试设备包括一系统控制单元、一工作负载模拟单元、一电力控制单元、一协议控制单元及一数据缓存单元。该电力控制单元与该协议控制单元选择性连接该储存装置。该测试装置在该储存装置模拟至少一工作负载，并于指定时刻断电，然后测试。如此，该测试装置快速发现该储存装置的装置韧体的潜在问题及算法漏洞，而提升该储存装置的装置韧体的稳定性与可靠度。

技术领域

本发明隶属一种储存装置的断电测试技术，具体而言指一种用于储存装置的不正常断电测试方法及设备。

背景技术

大多数作为储存装置的固态硬盘(solid-state disk,SSD)是使用如SATA、SAS或光纤信道等端口与计算机端口的总线连接。但SATA主要作为机械硬盘机(hard diskdrive:HDD)的端口，并随时间推移越来越难满足速度日益提高的SSD。因此，部分SSD已受到SATA最大吞吐量的限制。而非挥发性记忆体的控制器埠(non-volatile memory express:NVMe)一个逻辑设备埠规范，其是一种具有优化与高性能的可扩充的主机控制器界面，该NVMe的基本概念是通过快速外部连接总线连接处理器的传输回路。其最大优点是可提供超低延迟与高带宽的存取表现，且NVMe加了自动功耗状态切换和动态能耗管理功能，使NVMe在功耗管理上拥有较大优势。

储存装置在出厂时，须依消费级或企业级等进行不同等级的耐用性及工作负载(如连续读写、随机读写、读写大档案或小档案等)的测试。因此，其测试需求及测试方法有不同的标准规范(如JESD 218、JESD 219等)，以确保储存装置的耐用性寿命和质量。现有储存装置的测试方法大都是针对特定的工作负载做重复测试或是增加系统执行的时间，并参考标准规范来了解测试需求和测验环境。通常对储存装置的耐久度与可靠度可藉由过往经验或是拉长测试时间来验证出基本的问题。储存装置的重要之处在于保存用户数据。一般储存装置的装置韧体或许会处理正常断电，但易忽略或未周全考虑不正常断电而产生漏洞。若储存装置刚好遇上未考虑到的不正常断电，轻则用户的数据消失或系统崩溃，重则导致该储存装置的装置韧体失效而无法存取数据。

通常以操作系统执行一应用程序来测试现有储存装置。因此，测试流程的弹性及复杂度受限。另外，此种测试通常是规律性的循环断电而无法进行可预期的不正常断电测试。替代地，可由测试人员随机对储存装置进行断电，却无法于储存装置执行不同工作负载中的指定时刻进行断电测试，而难以发现在不同工作负载下不正常断电时装置韧体的问题及漏洞。另外，现有测试设备于每次测试中仅能就同一测试方式如指令断电测试、流程断电测试或压力测试来执行，无法让测试人员随时改变测试方式。如何解决前述问题，是业界的重要课题，也是本发明所探讨者。

本发明即基于上述需求与问题深入探讨，并藉由本发明人多年从事相关开发的经验，而积极寻求解决之道，经不断努力的研究与发展，终于成功的发展出一种用于储存装置的不正常断电测试方法及其不正常断电测试设备，能更有效找出装置韧体的问题及漏洞。

发明内容

因此，本发明的主要目的是提供一种用于储存装置的不正常断电测试方法及其不正常断电测试设备，藉以能可程序进行测试，供模拟在不正常断电下执行测试，以更快发现装置韧体潜在问题及算法漏洞，而提升储存装置的装置韧体的稳定性与可靠度。

本发明的另一目的是提供一种用于储存装置的不正常断电测试方法及其不正常断电测试设备，其可在储存装置执行不同工作负载中的指定点进行断电测试，令在断电的过程中，已发出的指令不需要等待指令的响应，而是在指令送出后的任意时刻执行断电，透过突然断电进行有效的测试。

本发明的另一目的是提供一种用于储存装置的不正常断电测试方法及其不正常断电测试设备，其能依需求，随时变换不同的测试方式、测试次数及测试循环，以增加储存装置错误测试的多样性、错误模型、情境、样本数或是种类。