[发明专利]基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法

权利要求书

1.基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一、预先计算理想反射面的增益-扰动曲线；

步骤二、施加面形扰动，测量扰动后的天线轴向增益，测量后再恢复扰动前的面形状态；

步骤三、改变扰动量，重复步骤二，得到天线增益随扰动量变化曲线的采样样本；

步骤四、拟合最优扰动量；

步骤五、对反射面施加最优扰动，使得面形误差中与该扰动模式对应的分量达到最小；

步骤六、改变扰动模式，重复步骤二到步骤五，最终得到的反射面面形误差对所有扰动模式达到极小值，天线增益达到极大值。

2.如权利要求1所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤一中，选择一组定义于反射面口面的正交或准正交基函数f_i(x,y),i＝1,...,N为扰动模式，N表示基函数数目，对每个基函数逐一计算理想面形下的增益随扰动量变化曲线

3.如权利要求2所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤二中，以f_i(x,y)为扰动模式，为对反射面形进行扰动的扰动量，测量扰动后的天线轴向增益测量后再恢复扰动前的面形状态。

4.如权利要求3所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤三中，以不同的扰动量重复步骤二N_s次，并确保均匀分布在[-γ_max,γ_max]的范围内，[-γ_max,γ_max]表示最大扰动范围；通过该步骤，得到天线增益随扰动量变化曲线的采样样本对测量样本进行归一化得到：

5.如权利要求4所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤四中，通过拟合算法求出使得以下目标函数达到极小值的最优扰动量

6.如权利要求5所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤五中，对反射面施加面形调整量使得面形误差中与该扰动模式对应的分量达到最小。

7.如权利要求6所述的基于轴向增益测量的主动反射面面形调整方法，其特征在于：所述步骤六中，以不同的扰动模式f_i(x,y),i＝1,...,N重复步骤二到步骤五共N次，最终得到的反射面面形误差对所有扰动模式达到极小值，天线增益达到极大值。