[发明专利]一种氮化镁薄膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201910139644.1 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109666913A 公开(公告)日: 2019-04-23
发明(设计)人: 陈占国;王帅;陈曦;赵纪红;刘秀环;侯丽新;李方野;高延军 申请(专利权)人: 吉林大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06
代理公司: 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 代理人: 刘世纯;王恩远
地址: 130012 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 薄膜 衬底 射频磁控溅射 六方氮化硼 蓝宝石 氮化镁 缓冲层 高纯 溅射 生长 制备 无机非金属材料 等离子体 溅射功率 无毒无害 可控性 速率和 电离 靶距 沉积 放入 强电 石英 清洗 室内
【权利要求书】:

1.一种Mg3N2薄膜的制备方法,其步骤如下:

(1)将高纯Mg靶材和清洗后的衬底依次放入磁控溅射生长室内,Mg靶材与衬底之间距离为4~6cm;

(2)抽真空使生长室本底真空度≤8.0×10-4Pa,加热使衬底升温至400~600℃;通入高纯N2气,N2流量为80~120sccm,控制生长室内工作压强为0.8~1.0Pa,并用挡板遮挡在衬底与靶材之间;

(3)将Mg靶材与射频电源(频率为13.56MHz)连接,溅射功率为150~200W;选择自动调节模式使得Mg靶材表面出现辉光,先预溅射20~30min;然后打开档板,开始在衬底上沉积Mg3N2薄膜,沉积速率为30~50nm/min,溅射时间为100~150min;

(4)生长结束后,关闭挡板,关闭射频电源,关闭衬底加热电源,待衬底冷却10~20分钟后,再依次关闭N2气和真空泵系统,自然冷却至室温,从而在衬底上制备得到厚度为5~7μm的Mg3N2薄膜。

2.如权利要求1所述的一种Mg3N2薄膜的制备方法,其特征在于:衬底是硅、蓝宝石、石英、以六方氮化硼为缓冲层的硅或以六方氮化硼为缓冲层的蓝宝石。

3.如权利要求1所述的一种Mg3N2薄膜的制备方法,其特征在于:高纯Mg靶材的纯度为99.95%以上。

4.如权利要求1所述的一种Mg3N2薄膜的制备方法,其特征在于:高纯N2气的纯度为99.999%以上。

5.一种Mg3N2薄膜,其特征在于:是由权利要求1~4任何一项所述的方法制备得到。

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