[发明专利]一种MOV电流分布检测方法、装置以及存储介质在审

专利信息
申请号: 201910142216.4 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109884376A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 张彦杰;姚玉锁;郎小华;李宝兵;李石磊;刘凯;李明刚;赵大翠;田宏伟;李征 申请(专利权)人: 平高东芝(廊坊)避雷器有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 孟鹏超
地址: 065001 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 电阻片柱 筛选 检测 存储介质 电流分布 分组步骤 通电步骤 不均匀系数 分组 电流检测 计算步骤 预设电压 电阻片 通电 采集 施加
【权利要求书】:

1.一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,包括:

通电步骤:对MOV所使用的电阻片进行的通电操作;

分组步骤:将所述电阻片中的所有电阻片柱按照残压量由低到高的顺序进行排序,并对电阻片中的所有电阻片柱进行分组;

检测步骤:分别向每组电阻片柱施加预设电压的冲击并对每组电阻片柱进行电流检测;

筛选步骤:分别选出每组电阻片柱中电流最大的电阻片柱和电流最小的电阻片柱;

对所述筛选步骤筛选出的每组电阻片柱中电流最大的电阻片柱和电流最小的电阻片柱进行分组,并循环进行所述通电步骤、所述分组步骤、所述检测步骤以及所述筛选步骤处理,直至筛选出所有所述电阻片柱中电流最大的电阻片柱和电流最小的电阻片柱;

采集步骤:获取所有所述电阻片柱中电流最大的电阻片柱的第一电流值以及所有所述电阻片柱中电流最小的电阻片柱的第二电流值;

计算步骤:根据所述第一电流值以及所述第二电流值,计算最终不均匀系数。

2.根据权利要求1所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述检测步骤包括:

获取每组电阻片柱中的电流总值、每组电阻片柱中单个电阻片柱的电流最大值以及每组电阻片柱中单个电阻片柱的数量;

根据所述每组电阻片柱中的电流总值、每组电阻片柱中单个电阻片柱的电流最大值以及每组电阻片柱中单个电阻片柱的数量,计算中间不均匀系数;

判断所述中间不均匀系数是否小于获取的第一预设不均匀系数;

若是,则进行筛选步骤。

3.根据权利要求2所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述中间不均匀系数通过下述公式计算:

β中间=n×Imax/Iarr×100%,

其中,β中间为中间不均匀系数,n为每组电阻片柱中单个电阻片柱的数量,Imax为每组电阻片柱中单个电阻片柱的电流最大值,Iarr为每组电阻片柱中的电流总值。

4.根据权利要求2所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述第一预设不均匀系数为1.05。

5.根据权利要求1所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述计算步骤之后还包括:

判断所述最终不均匀系数是否小于获取的第二预设不均匀系数;

若是,则生成电阻片合格信息;

将所述电阻片合格信息发送至用户的终端和/或在检测仪的显示面板上显示。

6.根据权利要求5所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述第二预设不均匀系数为1.1。

7.根据权利要求1所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,所述最终不均匀系数通过下述公式计算:

β最终=I′max/Imin

其中,β最终为最终不均匀系数,I′max为第一电流值,Imin为第二电流值。

8.根据权利要求1所述的一种MOV电流分布检测方法,其特征在于,在所述通电步骤与所述分组步骤之间还包括:排序步骤,

所述排序步骤为:将所述电阻片中的所有电阻片柱按照残压量由低到高的顺序进行标号,其中标号为1~n。

9.一种MOV电流分布检测装置,其特征在于,包括:

存储器,用于存储计算机程序;

处理器,用于执行所述计算机程序,实现如权利要求1至8中任一项所述的一种MOV电流分布检测方法。

10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有指令,当计算机读取所述指令时,使所述计算机执行如权利要求1至8中任一项所述的一种MOV电流分布检测方法。

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