[发明专利]带有销毁结构的抗攻击芯片的装置及抗攻击方法有效
申请号: | 201910143800.1 | 申请日: | 2019-02-25 |
公开(公告)号: | CN109934022B | 公开(公告)日: | 2023-09-19 |
发明(设计)人: | 赵毅强;甄帅;李跃辉;辛睿山 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G06F21/75 | 分类号: | G06F21/75 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人: | 刘国威 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 带有 销毁 结构 攻击 芯片 装置 方法 | ||
1.一种带有销毁结构的抗攻击芯片的装置,其特征是,由控制核心模块、攻击检测模块、销毁模块、时钟切换模块与电源切换模块、用户数据接口构成,其中:
1)控制核心模块
控制核心模块包括数字控制电路和读出电路,数字控制电路负责联系攻击检测模块、时钟与电源模块、销毁控制电路模块和用户接口模块;读出电路用于处理攻击检测模块传递来的识别信号,数字控制电路还控制销毁模块,根据攻击检测模块的信号进行数据销毁,或者根据用户程序控制,进行手动销毁;
2)攻击检测模块
攻击检测模块用作抗攻击芯片的攻击检测,由用户定义其内部结构,来对各种形式的硬件攻击进行报警;
3)时钟切换模块与电源切换模块
时钟切换模块给芯片数字部分产生工作时钟,时钟切换模块会根据是否有外部高频时钟输入,来选择使用外部或内部时钟作为系统的时钟,电源切换模块给控制核心中的数字电路、销毁模块中的检测电路、用户数据接口中的数字电路和其他部分的模拟电路提供工作电压;
4)销毁模块
销毁模块中存在销毁电路用于抹除数据存储器中的数据,当芯片受到攻击时,攻击检测模块电路发出信号,通过控制核心控制销毁电路启动,产生销毁信号打开销毁电路,擦除数据存储器中的关键数据;
5)用户数据接口
用户通过用户数据接口控制芯片,兼容多种通讯协议,方便用户上位机与芯片进行数据交互,用户可以使用此接口控制芯片下载程序,读取数据,执行销毁操作;
各模块工作过程如下:
第一步:利用控制核心将程序中的电压阈值写入攻击检测模块,攻击检测模块之后根据控制核心传来的开启信号,开始检测攻击;
第二步:检测模块中传感器将外部参数变化转化为模拟的电流信号,通过一个读出电路再将其转为数字信号,传递给控制核心中的数字控制模块进行处理,并在其中进行阈值判别,最后将真值信号反馈给控制核心;
第三步:若判断检测到外部攻击信号,根据是否检测到攻击信号,分为两套工作流程:
(1)若出现攻击信号,攻击检测模块检测到信号经AD转换后,读出电路反馈一个开启真值,控制核心此时向销毁电路输出允许信号,销毁模块中销毁时钟启动,销毁电路开始工作通过随机数生成器生成销毁数据,并输出到数据存储器中抹除原有芯片数据;
(2)若传感器判断没有检测到攻击信号,读出电路向控制核心反馈关闭真值,销毁模块默认不自动启动,用户通过用户数据接口,向控制核心模块直接发送指令,启动销毁模块将数据存储器中的数据手动销毁。
2.如权利要求1所述的带有销毁结构的抗攻击芯片的装置,其特征是,用户定义其内部结构包括:传感器结构,用来检测芯片环境的压力与电磁变化,从而判断芯片是否受到攻击;
布置主动防护层,通过检测主动防护层的完整性,来判别芯片是否受到FIB攻击。
3.一种带有销毁结构的抗攻击芯片抗攻击方法,其特征是,步骤如下:
第一步:程序开始执行,利用控制核心将程序中的电压阈值写入攻击检测模块,攻击检测模块之后根据控制核心传来的开启信号,开始检测攻击;
第二步:检测模块中传感器将外部参数变化转化为模拟的电流信号,通过一个读出电路再将其转为数字信号,传递给控制核心中的数字控制模块进行处理,并在其中进行阈值判别,最后将真值信号反馈给控制核心;
第三步:若判断检测到外部攻击信号,根据是否检测到攻击信号,分为两套工作流程:
(1)若出现攻击信号,攻击检测模块检测到信号经AD转换后,读出电路反馈一个开启真值,控制核心此时向销毁电路输出允许信号,销毁模块中销毁时钟启动,销毁电路开始工作通过随机数生成器生成销毁数据,并输出到数据存储器中抹除原有芯片数据;
(2)若传感器判断没有检测到攻击信号,读出电路向控制核心反馈关闭真值,销毁模块默认不自动启动,用户通过用户数据接口,向控制核心模块直接发送指令,启动销毁模块将数据存储器中的数据手动销毁。
4.如权利要求3所述的带有销毁结构的抗攻击芯片抗攻击方法,其特征是,销毁电路中,销毁时钟会根据控制核心和用户指令的开启信号开启随机数生成器,随机数生成器会产生随机数据写入数据存储器。
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