[发明专利]激光打标图形校正值的计算方法、装置和计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 201910145271.9 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109886894A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 王威;罗铁庚;唐国富;龙森;江磊;张林亚 申请(专利权)人: 长沙八思量信息技术有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;B23K26/362
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 胡海国
地址: 410000 湖南省长沙市长沙*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 校正 激光打标 初始参数 打标 计算机可读存储介质 参考 预设 计算装置 误差判断 算法 激光
【权利要求书】:

1.一种激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述激光打标图形校正值的计算方法包括以下步骤:

获得第一图形的初始尺寸,所述第一图形为根据初始参数进行打标的图形;

根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算,得到所述初始参数的校正参考值;

按照所述校正参考值进行打标,获得打标后的第二图形;

根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差;

根据所述误差判断所述校正参考值是否满足预设的校正精度;

若是,则将所述校正参考值作为激光打标的校正值。

2.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述激光打标图形校正值的计算方法还包括以下步骤:

若否,则将所述第二图形的尺寸设为初始尺寸,并返回步骤:根据预设的算法和所述初始尺寸进行计算,得到所述初始参数的校正参考值。

3.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述预设的算法为:

E-SCALEX=SCALEX*E-X/E-X2

E-SCALEY=SCALEY*E-Y/E-Y2

E_DISTORX=BUCKETX-(fWorkSize*fWorkSize*((E_X1+E_X3)-2*E_X2))/(2*E_X2*E_Y2*E_Y2)

E_DISTORY=BUCKETY-(fWorkSize*fWorkSize*((E_Y1+E_Y3)-2*E_Y2))/(2*E_Y2*E_X2*E_X2)

E_HORVERX=PRRLX-1/tan(E_A*Pi/180),

E_HORVERY=PRRLY,

E_TRAPEDISTORX=TRAPEX-(E_X1-E_X3)/(2*E_Y2),

E_TRAPEDISTORY=TRAPEY+(E_Y1-E_Y3)/(2*E_X2),

其中,E_SCALEX、E_SCALEY为推荐的X、Y方向的比例校正参考值,E_DISTORX、E_DISTORY为推荐的X、Y方向的桶形校正参考值,E_HORVERX、E_HORVERY为推荐的X、Y方向的平行四边形校正参考值,E_TRAPEDISTORX、E_TRAPEDISTORY为推荐的X、Y方向的梯形校正参考值,E_X、E_Y、E_A为X、Y方向初始参数,E_X1、E_X2、E_X3、E_Y1、E_Y2、E_Y3为X、Y方向6个初始尺寸长度,Pi为π,SCALEX、SCALEY为上一次打标的X、Y方向的比例校正参考值,BUCKETX、BUCKETY为上一次打标的X、Y方向的桶形校正参考值,fWorkSize为振镜可扫描区域尺寸,PRRLX、PRRLY为上一次打标的X、Y方向的平行四边形校正参考值,TRAPEX、TRAPEY为上一次打标的X、Y方向的梯形校正参考值。

4.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述获得第一图形的初始尺寸的步骤包括:

根据预设图形进行打标,获得打标后的第一图形;

接收用户输入的所述第一图形的测量尺寸,获得所述第一图形的初始尺寸。

5.如权利要求1所述的激光打标图形校正值的计算方法,其特征在于,所述根据所述第二图形和初始参数获得所述第二图形的误差的步骤包括:

接收用户输入的所述第二图形的测量尺寸,获得所述第二图形的尺寸;

对所述第二图形的尺寸与初始参数进行计算,获得所述第二图形的误差。

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