[发明专利]降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体及制备方法在审
申请号: | 201910145731.8 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN109873257A | 公开(公告)日: | 2019-06-11 |
发明(设计)人: | 李志忠;张波;王森;王永利;于义亮;王勇;薛军;李英奇;刘晶;吴经锋;蒲路;牛博;高峰;李伟 | 申请(专利权)人: | 国网陕西省电力公司电力科学研究院;清华大学;国网陕西省电力公司检修公司;国网陕西省电力公司;国家电网有限公司 |
主分类号: | H01R4/66 | 分类号: | H01R4/66;H01R43/00 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710054 陕西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 接地 复合接地体 均流盘 制备 导体 冲击阻抗 电容补偿 接地装置 包覆层 接地体 包覆 金属接地材料 高介电常数 聚合物材料 基体两端 降低冲击 接地阻抗 介电常数 耐腐蚀性 高导电 电容 覆盖 | ||
1.一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体,其特征在于,包括导体(1)、包覆层(2)和均流盘(3),所述包覆层(2)包覆在所述导体(1)外,所述均流盘(3)以导体(1)为中心,覆盖在包覆层(2)两端的外端面上,且所述均流盘(3)和包覆层(2)固定连接。
2.根据权利要求1所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体,其特征在于,所述包覆层(2)由导电聚合物制成,所述导电聚合物的电阻率为50Ωm~100Ωm,相对介电常数为10000~11000。
3.根据权利要求1所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体,其特征在于,所述导体(1)为圆柱体,所述导体(1)的半径为1cm~3cm。
4.根据权利要求1所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体,其特征在于,所述均流盘(3)的厚度为1mm~2mm。
5.一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、在聚丙烯基体中分别添加占总体积20%~40%的炭黑以及占总体积5%~10%的CaCu3Ti4O12进行混炼,混炼温度为200℃~240℃,混炼时间为20min~40min,得到导电聚合物;
步骤2、将步骤1制备的导电聚合物包覆至金属导体(1)外,形成包覆层(2),所述包覆层(2)的厚度为0.2m~0.3m;在室温下冷却后,即得到接地基体;
步骤3、在接地基体两端固定连接均流盘(3),均流盘(3)覆盖接地基体的两端。
6.根据权利要求5所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体的制备方法,其特征在于,步骤1中,所述炭黑的粒径为50nm~200nm,所述CaCu3Ti4O12的粒径为100nm~300nm。
7.根据权利要求5所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体的制备方法,其特征在于,步骤2中,所述导体(1)为直径为1cm~3cm的圆柱体。
8.根据权利要求5所述的一种降低接地装置冲击阻抗的电容补偿型接地体的制备方法,其特征在于,步骤3中,所述均流盘(3)采用钢或铜制成。
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