[发明专利]一种干法黑硅片的高效量产制备方法在审
申请号: | 201910145814.7 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN109935645A | 公开(公告)日: | 2019-06-25 |
发明(设计)人: | 张良;席珍强;孙鹏;郑守春;余刚;唐骏 | 申请(专利权)人: | 镇江仁德新能源科技有限公司;镇江荣德新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0236 | 分类号: | H01L31/0236;H01L31/18 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈国强 |
地址: | 212200 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 硅片 去除 损伤层 量产 制备 硅片表面 碱腐蚀 吸杂层 干法 扩散 多晶 修饰 清洗 市场竞争力 表面多孔 电池效率 工艺制备 纳米孔洞 体内杂质 药液残留 重掺杂区 磷扩散 酸腐蚀 黑硅 浓磷 绒面 吸杂 吸收 | ||
1.一种干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤一,去除损伤层:采用酸腐蚀或者碱腐蚀的方法,将硅片表面的损伤层去除;
步骤二,清洗:将去除损伤层的硅片进行清洗,去除其表面多孔硅以及药液残留;
步骤三,磷扩散吸杂:采用浓磷扩散在步骤二得到的硅片表面形成重掺杂区,吸收硅片体内杂质;
步骤四,去除扩散吸杂层:采用碱腐蚀的方法,去除扩散吸杂层;
步骤五,干法黑硅制备:采用RIE黑硅工艺制备黑硅片;
步骤六,修饰绒面:对步骤五得到的表面具有纳米孔洞的黑硅片进行修饰,得到黑硅片。
2.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤一中,酸腐蚀的方法为:采用氢氟酸和硝酸的混合液腐蚀硅片,氢氟酸和硝酸的体积比为1:1~1:10,温度5~15摄氏度,腐蚀量0.15~0.5克。
3.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤一中,碱腐蚀的方法为:采用质量百分浓度为2~10%的氢氧化钾溶液腐蚀硅片,温度60~90摄氏度,腐蚀量0.15~0.5克。
4.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:若步骤一采用酸腐蚀,则步骤二中采用碱性溶液进行清洗,其中,碱性溶液为质量百分浓度为2~10%的氢氧化钾溶液;若步骤一采用碱腐蚀,则步骤二中采用酸性溶液进行清洗,其中,酸性溶液为氢氟酸和盐酸以体积比为2:1~1:5混合的混合液。
5.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤三具体为:磷扩散吸杂采用变温吸杂工艺,使用卧式常压扩散炉,包括以下步骤:第一步进舟;第二步升温达到750~1000摄氏度,通入三氯氧磷流量为200~5000毫升/分钟,氧气流量为200~3000毫升/分钟,氮气流量为0~30升/分钟,扩散时间5~60分钟;第三步升温至750~1000摄氏度,通入三氯氧磷流量为200~5000毫升/分钟,氧气流量为200~3000毫升/分钟,氮气流量为0~30升/分钟,扩散时间10~60分钟;第四步降温至550~800摄氏度并保温5~60分钟,第五步出舟。
6.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤四中,采用质量百分浓度为2~10%的氢氧化钾溶液腐蚀去除扩散吸杂层,温度60~90摄氏度,腐蚀量0.15~0.5克。
7.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤五中,采用RIE黑硅工艺制备黑硅片的工艺条件为:六氟化硫的流量为1000~2000毫升/分钟,氧气流量为1000~3500毫升/分钟,氯气流量为500~2000毫升/分钟,射频功率1000~2000瓦,真空压力10~40帕,工艺时间30~90秒。
8.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤六中,采用缓冲氧化物刻蚀液、H2O2的混合液修饰黑硅绒面,工艺条件为:温度30~50摄氏度,其中缓冲氧化物刻蚀液与H2O2的体积比为3:1~1:3,缓冲氧化物刻蚀液由氢氟酸和氟化铵按照体积比1:4~1:6混合而成。
9.根据权利要求1所述的干法黑硅片的高效量产制备方法,其特征在于:所述步骤六中,采用氢氟酸、硝酸的混合液扩孔修饰绒面,工艺条件为:温度5~15摄氏度,其中HF与HNO3的体积比为1:1~1:10。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的