[发明专利]一种样本分析系统、样本调度方法及存储介质

权利要求书

1.一种样本分析系统，其特征在于，包括：

进样处理装置，用于将待测样本传送至样本分析装置；

样本分析装置，包括第一分析模块和第二分析模块，每个所述分析模块均具有用于使样本和试剂反应的反应单元、把样本或试剂分注到反应单元的分注机构、将样本和试剂的混合物进行检测的检测单元，每个所述分析模块能分析特定的测试项目；

输入装置，接收设定的重测项目及对所述重测项目设定的重测模式；以及

控制装置，控制先将待测样本传送到第一分析模块进行检测，当确定所述待测样本中有所述重测项目要进行重测，根据对待重测项目预先设定的重测模式控制将其对应的重测样本传送到指定分析模块的吸样位置进行重测。

2.根据权利要求1所述的样本分析系统，其特征在于，所述重测模式包括换机重测模式，若将待重测项目设定为换机重测模式，控制装置控制将所述重测样本传送到与原第一分析模块不同的第二分析模块的吸样位置进行重测。

3.根据权利要求1所述的样本分析系统，其特征在于，所述重测模式包括随机重测模式，若将待重测项目设定为随机重测模式，控制装置按照所述样本分析系统的分配原则将所述重测样本传送到指定分析模块的吸样位置进行重测。

4.根据权利要求1所述的样本分析系统，其特征在于，所述重测模式包括原机重测模式，若将待重测项目设定为原机重测模式，控制装置将所述重测样本传送到原第一分析模块的吸样位置进行重测。

5.如权利要求1-4中任一项所述的样本分析系统，其特在于，所述进样处理装置包括：

放入单元，用于承载待测样本的样本架；

回收单元，用于承载待回收样本的样本架；

调度单元，用于将所述承载待测样本的样本架从放入单元调度到分析装置，以及将所述承载待回收样本的样本架从分析装置调度到回收单元。

6.如权利要求5所述的样本分析系统，所述进样处理装置，还包括：

缓存单元，用于承载从放入单元进入的等待检测的样本架，和/或者承载要进入回收单元等待回收的样本架；

控制装置控制将带有待测样本的样本架传送到第一分析模块进行检测后，调度单元先将所述样本架从分析装置运送至缓存单元等待测试结果，当确定所述待测样本中有重测项目要进行重测，控制装置再控制调度单元根据对待重测项目预先设定的重测模式将带有所述重测样本的样本架从所述缓存单元传送到指定分析模块的吸样位置进行重测。

7.如权利要求6中任一项所述的样本分析系统，其特征在于，所述控制装置还包括，在将样本架送到指定分析模块的吸样位置后，

控制装置控制所述指定分析模块对待重测样本进行稀释处理，再通过所述指定分析模块进行检测；和/或者，

所述样本架运送至所述指定分析模块后，调整所述指定分析模块的吸样量，使调整后的吸样量和原所述第一分析模块的吸样量不一致。

8.一种样本分析系统，其特征在于，包括：

进样处理装置，用于将待测样本传送至样本分析装置，所述进样处理装置还包括回收单元，用于承载需要回收的样本架；

样本分析装置，包括第一分析模块和第二分析模块，每个所述分析模块均具有用于使样本和试剂反应的反应单元、把样本或试剂分注到反应单元的分注机构、将样本和试剂的混合物进行检测的检测单元，每个所述分析模块能分析特定的测试项目；

输入装置，接收设定的重测项目及对所述重测项目设定的重测模式；以及

控制装置，控制先将待测样本传送到第一分析模块进行检测，当确定所述待测样本中有所述重测项目要进行重测，根据对待重测项目预先设定的重测模式控制将其对应的重测样本传送到指定分析模块的吸样位置进行重测。

所述重测模式还包括转移重测模式，若预先将待重测项目设定为换机重测模式，控制装置控制直接将所述重测样本传送到所述回收单元。