[发明专利]一种含倾斜角的反射式双圈同轴型光纤传感器探头在审
申请号: | 201910147101.4 | 申请日: | 2019-02-27 |
公开(公告)号: | CN109781155A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 杨瑞峰;郭晨霞;杨睿 | 申请(专利权)人: | 中北大学 |
主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353 |
代理公司: | 山西五维专利事务所(有限公司) 14105 | 代理人: | 李印贵 |
地址: | 030051*** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 发送光纤 接收光纤 光纤传感器 探头 内圈 测量 反射式 同轴型 双圈 表面形貌测量 光电探测器 同心圆结构 范围扩大 紧密排列 线性区间 中心轴线 激光器 发射光 灵敏度 减小 相切 | ||
本发明涉及一种含倾斜角的反射式双圈同轴型光纤传感器探头,包括发送光纤,内圈接收光纤和外圈接收光纤;发送光纤的一端与发射光的激光器连接,内圈接收光纤和外圈接收光纤分别与光电探测器连接;其特点是光纤传感器探头是以发送光纤中心为轴,发送光纤布置在探头的中心,内圈接收光纤和发送光纤呈同心圆结构紧密排列且末端在同一平面内,外圈接收光纤与发送光纤中心轴线成β=2.33°角度,末端与内圈接收光纤末端相切,其末端在同一个曲面内,其中中心经过发送光纤的轴线;它减小了测量带来的误差,改善了测量不准的情况,测量灵敏度提高了约1.89倍,测量的线性区间范围扩大了约1.14倍,提高了用于表面形貌测量的光纤传感器的性能。
技术领域
本发明属于光纤传感技术领域,具体涉及一种含倾斜角的反射式双圈同轴型光纤传感器探头。
背景技术
光纤传感器是20世纪70年代迅速发展起来的一种新型传感器。近几十年来,随着光纤技术的不断发展,在多种非接触测量系统中光纤传感器技术已发展成熟。将光纤传感技术应用于表面微观形貌的测量,可以实现非接触的高精度测量。实用性的光纤传感器一般都以强度调制型光纤传感器为主。反射式强度调制型(RIM)光纤传感器因其结构简单、体积小、频带宽、稳定性好、可靠性高等特点广泛应用在表面形貌测量中。
任何被测件表面经切削、研磨等加工过程中因温度和压力等因素的变化,导致表面各处反射率不同,在测量表面形貌时带来误差。此种误差,可采用双圈同轴型光纤传感器结合比值法来减小。
目前,常见的反射式光纤传感器探头的端面以平面为主,也就是出射光纤和入射光纤的纤端在同一平面上,其内部光纤束排列主要呈随机型,平行型,同轴型和半圆型排列,各种不同的排列方式影响测量范围的大小和灵敏度的高低。因为发送光纤和接收光纤是紧密排列的,所以在同一平面内的的结构对于测量喊曲率较大的点的平面时会丢失很多数据。引入外圈光纤的倾斜角可以有效扩大双圈同轴式光纤传感器的测量范围和灵敏度,还可以改善表面某些曲率变化较大的点测不准的情况。
发明内容
本发明的目的旨在克服光纤传感器探头的结构的缺点和不足,提出了一种增大线性测量区间、提高测量灵敏度的包含外圈光纤倾斜角的反射式光纤传感器探头。
为实现上述目的,本发明的技术方案是:
一种含倾斜角的反射式双圈同轴型光纤传感器探头,包括发送光纤1,至少两圈接收光纤,即内圈接收光纤2,外圈接收光纤3;所述的发送光纤的一端与发射光的激光器连接,内圈接收光纤和外圈接收光纤分别与光电探测器的两个采集通道连接;其特征在于:所述的光纤传感器探头是以发送光纤中心为轴,所述的发送光纤布置在探头的中心,内圈接收光纤与发送光纤的末端在同一平面内,外圈接收光纤与发送光纤的轴线成角度为β,发送光纤端面与内圈接收光纤在一个平面内,外圈接收光纤与内圈接收光纤部分相切并分布在同一曲面内,接收光纤的末端和发送光纤都是紧密排列的,即所述的光纤传感器探头为双圈同轴结构。
所述的内圈接收光纤有六根,外圈接收光纤有十二根,所述的曲面为球面内。
所述的内圈接收光纤和外圈接收光纤与光电探测器之间都采用FC连接器耦合连接。
所述的发射光纤为芯径9μm的多模光纤,接收光纤均为芯径65μm的多模光纤,且其包层直径都为125μm。
所述的外圈接收光纤与发送光纤轴线倾斜角为β=2.33°。
本发明与现有技术相比具有实质性特点和显著性效果:
本发明的光纤传感器探头结构基于单圈同轴式探头结构改良为采用外圈接收光纤包含倾斜角的光纤探头结构,能够减小因表面反射率不同给测量带来的误差,还可以改善因某些曲率较大的点的测不准的情况。在测量性能方面,相比较于单圈同轴型光纤传感器,灵敏度提高了约1.89倍,用于测量的线性区间范围扩大了约1.14倍。此种光纤传感器探头结构极大地提高了用于表面形貌测量的反射式强度调制型光纤传感器的性能。
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