[发明专利]光纤光栅F-P腔阵列准分布式多参量测量的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910150533.0 申请日: 2019-02-28
公开(公告)号: CN109855662B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 余海湖;毕浩;郭会勇;范典;唐健冠;罗斯特;姜德生 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01D5/26 分类号: G01D5/26
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 孙方旭;胡建平
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 光纤 光栅 阵列 分布式 参量 测量 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种光纤光栅F-P腔阵列准分布式多参量测量的方法,其特征在于,该方法包括以下步骤,步骤一,在光栅表面涂覆不同涂层材料;步骤二,将宽带光源、环形器、光纤光栅F-P腔传感器阵列、解调仪顺次连接,从宽带光源发出的光经环形器入射到光纤光栅F-P腔传感器阵列中,随后反射回环形器;步骤三,最后进入解调仪;利用两个光纤光栅构成法布里-珀罗干涉仪,光纤光栅F-P腔传感器在待测量参数作用下形成F-P腔干涉峰和光栅反射峰,待测量参数变化时,根据谐振峰波长改变值的不同,结合灵敏度矩阵方程,同时测量多种待测量参数;

该方法采用的装置中光源、环形器、光纤光栅F-P腔传感器阵列、解调仪顺次连接,从光源发出的光经环形器入射到光纤光栅F-P腔传感器阵列中,反射回环形器,最后进入解调仪;两个光纤光栅构成法布里-珀罗干涉仪,光栅表面涂覆一种或多种定点涂层材料,光纤纤芯外为光纤石英层,其外为定点涂层,定点涂层的厚度在外涂覆层厚度的0.5~1倍之间。

2.根据权利要求1所述的光纤光栅F-P腔阵列准分布式多参量测量的方法,其特征在于,通过灵敏度矩阵,可以得到当第1、2、…、s个参量改变时,光栅多个反射峰波长的变化为:

式中Δλ1、Δλ2、…、Δλn分别为单个光栅形成的反射峰波长改变量,k11、k12、…、k1s分别为光栅第一个反射峰波长对第1、2、…、s个参量的灵敏度,kn1、kn2、…、kns分别为光栅第n个反射峰波长对第1、2、…、s个参量的灵敏度,ΔT、Δε、…、Δ%RH分别为第1、2、…、s个参量的变化量。

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