[发明专利]一种定量表征致密储层全尺度孔径分布特征的方法在审
申请号: | 201910151245.7 | 申请日: | 2019-02-28 |
公开(公告)号: | CN111624146A | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 李鹏;刘全有;黄振凯 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | G01N15/08 | 分类号: | G01N15/08 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;何娇 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定量 表征 致密 储层全 尺度 孔径 分布 特征 方法 | ||
1.一种定量表征致密储层全尺度孔径分布的方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1,通过核磁共振法获取致密储层样品的弛豫时间累积分布曲线;
S2,通过场发射扫描电镜全尺度孔径定量表征技术获取所述储层样品的孔径累积分布曲线;
S3,利用所述弛豫时间累积分布曲线和所述孔径累积分布曲线,结合线性回归法获取所述储层样品的弛豫时间与孔径分布之间的目标函数关系。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S2包括:
S21、将多张子图像通过图像拼接方法获得表征全尺度储层孔隙发育特征的目标连续图像;
S22、采用阈值分割法从所述目标连续图像中分离得到不同类型孔隙的孔隙二值化图像;
S23、在所述孔隙二值化图像中定量统计储层孔隙参数,获取所述孔径累积分布曲线。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤S21包括:
S11、通过场发射扫描电子显微镜确定能够有效表征全尺度储层孔隙发育特征的目标视域;
S12、将所述目标视域划分为多个子视域网格;
S13、对所述多个子视域网格中的每个子视域网格分别进行高分辨率成像,得到所述多张子图像;
S14、在保证完整性的前提下将所述多张子图像按序重新拼接,获得所述目标连续图像。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤S22包括:
S221、确定灰度阈值;
S222、将所述目标连续图像中灰度值大于或等于所述灰度阈值的像素分割为背景;
S223、将所述目标连续图像中灰度值小于所述灰度阈值的像素分割为孔隙,得到所述孔隙二值化图像;
S224、重复步骤S21~S23,得到不同类型孔隙的孔隙二值化图像。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤S3中,所述目标函数关系以下式表示:
其中,rc为所述储层样品的孔径,T2为所述储层样品的弛豫时间,n和C分别为待确定的幂指数和常数。
6.根据权利要求5述的方法,其特征在于,步骤S3包括:
S31,在所述弛豫时间累积分布曲线和所述孔径累积分布曲线中,确定相同纵坐标值对应的弛豫时间值和孔径值;
S32,将所述弛豫时间值和所述孔径值分别确定为横坐标和纵坐标,获得目标数值对;
S33,重复步骤S31~S32,获得至少一个目标数值对;
S34,将上述至少一个目标数值对代入所述目标函数关系式中,利用线性回归法对n和C进行求解。
7.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述灰度阈值为30。
8.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述储层孔隙参数包括孔隙尺寸、孔隙数量以及面孔率。
9.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述目标视域的尺寸大于储层孔隙尺寸的10倍。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述目标视域的尺寸大于1mm。
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