[发明专利]一种提高芯片检验效率的卷料设备

权利要求书

1.一种提高芯片检验效率的卷料设备，所述提高芯片检验效率的卷料设备包括底板(1)和支板(2)，所述支板(2)的数量为两个，且支板(2)分别固定连接在底板(1)顶端左右两侧，其特征在于：所述支板(2)前端上方均设置有手轮(3)，且手轮(3)后侧中部固定连接有连接杆(301)，所述连接杆(301)贯穿设置于支板(2)且与支板(2)转动连接，且连接杆(301)后侧固定连接有圆盘(302)，所述圆盘(302)后侧均匀固定连接有三根限位杆(303)；

立板(4)，所述立板(4)固定连接在底板(1)顶端中部后侧，且立板(4)左侧上方设置有移动板(6)，所述立板(4)侧面和移动板(6)右侧均开有滑道(401)，且立板(4)与移动板(6)之间设置有连接块(501)，所述连接块(501)左右两侧均固定连接滑块(5)，且滑块(5)均位于滑道(401)内并与滑道(401)滑动连接，所述移动板(6)左侧和立板(4)后侧均转动连接有转轴(601)，且移动板(6)前端固定连接有金属托板(7)，所述金属托板(7)前侧中部开有凹槽(701)，且金属托板(7)前端铰接有盖板(8)，所述盖板(8)前端中部开有观察窗(801)，且盖板(8)后侧底端中部嵌接有磁块(802)。

2.根据权利要求1所述的一种提高芯片检验效率的卷料设备，其特征在于：所述两个支板(2)位于同一水平线上，且圆盘(302)跟随手轮(3)转动而转动，所述限位杆(303)之间呈三角排布。

3.根据权利要求1所述的一种提高芯片检验效率的卷料设备，其特征在于：所述右侧的滑块(5)在立板(4)中上下移动，且移动板(6)在滑块(5)外前后移动，所述立板(4)中的滑道(401)后侧开有槽口，且转轴(601)位于槽口内。

4.根据权利要求1所述的一种提高芯片检验效率的卷料设备，其特征在于：所述转轴(601)末端均与滑块(5)相抵住，且金属托板(7)的位置随移动板(6)调整。

5.根据权利要求1所述的一种提高芯片检验效率的卷料设备，其特征在于：所述凹槽(701)与限位杆(303)位于同一水平面，且凹槽(701)与观察窗(801)对应，所述磁块(802)吸附于金属托板(7)。