[发明专利]硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质

说明书

本发明公开了硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质，属于电子测试领域。本发明通过对待测设备数据接口进行测试，读取数据接口当前的状态以及与数据接口对应的寄存器的值，通过调节寄存器的值使数据接口的最大有效窗口，实现缩短调试时间，提升待测设备系统稳定性的目的，同时降低了人力成本。

技术领域

本发明涉及电子测试领域，尤其涉及硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术

现有的硬件设备接口调试只能估算SOC(System on Chip，系统级芯片)内部信号的建立时间和保持时间，没有考虑时钟(CLK)/数据(DATA)信号在SOC内部的延迟、抖动等问题，不能准确反映出SOC内部信号采样的真实窗口，信号存在采样不稳定的风险，且测试时间长耗费大量的人力。

发明内容

针对上述问题，现提供一种旨在可自动进行接口调试提升硬件设备稳定性的硬件设备的调试方法、装置、计算机设备及存储介质。

一种硬件设备的调试方法，包括：

对待测设备数据接口进行测试；

获取所述待测设备中与所述数据接口对应的寄存器的值，调节所述寄存器的值使所述数据接口的最大有效窗口。

优选的，获取所述待测设备中与所述数据接口对应的寄存器的值，调节所述寄存器的值使所述数据接口的最大有效窗口，包括：

通过与所述数据接口对应的串口调用所述寄存器，读取所述寄存器的值，所述数据接口输出的信号包括数据信号和时钟信号；

通过调节所述寄存器的值调整相应的所述数据接口的时钟信号延时，以获取所述数据接口的最大有效窗口。

优选的，所述数据接口包括：千兆以太网接口，百兆以太网接口，摄像头接口，存储接口和WIFI接口。

优选的，对待测设备数据接口进行测试，包括：

对所述待测设备进行上电初始化；

控制所述待测设备处于工作状态对所述数据接口进行测试。

本发明还提供了一种硬件设备的调试装置，包括：

通信单元，与待测设备连接，用于与所述待测设备进行通信；

测试单元，连接所述通信单元，用于对待测设备数据接口进行测试；

调试单元，连接所述通信单元和所述测试单元，用于获取所述待测设备中与所述数据接口对应的寄存器的值，调节所述寄存器的值使所述数据接口的最大有效窗口。

优选的，所述调试单元包括：

获取模块，用于通过与所述数据接口对应的串口调用所述寄存器，读取所述寄存器的值，所述数据接口输出的信号包括数据信号和时钟信号；

调节模块，用于通过调节所述寄存器的值调整相应的所述数据接口的时钟信号延时，以获取所述数据接口的最大有效窗口。

优选的，所述数据接口包括：千兆以太网接口，百兆以太网接口，摄像头接口，存储接口和WIFI接口。

优选的，所述测试单元用于对所述待测设备进行上电初始化，控制所述待测设备处于工作状态对所述数据接口进行测试。

本发明还提供了一种计算机设备，所述计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。

本发明还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：所述计算机程序被处理器执行时实现上述方法的步骤。

上述技术方案的有益效果：