[发明专利]一种可控源电磁测量方法、装置及其存储介质有效
申请号: | 201910162044.7 | 申请日: | 2019-03-05 |
公开(公告)号: | CN109884714B | 公开(公告)日: | 2021-11-16 |
发明(设计)人: | 李建华;林品荣;郑采君;李勇;丁卫忠;刘昕卓;孙夫文 | 申请(专利权)人: | 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
主分类号: | G01V3/08 | 分类号: | G01V3/08 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 陶洪 |
地址: | 300000 天津市东丽区东丽湖*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 可控 电磁 测量方法 装置 及其 存储 介质 | ||
1.一种可控源电磁测量方法,其特征在于,所述方法包括:
通过布设在第一激发场源辐射范围内的第一测区中的检测点,获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区中的第一测区数据;
通过布设在第二激发场源辐射范围内的第二测区中的检测点,获取带有所述第二激发场源的场源效应的第二测区的第二测区数据,所述第一激发场源位于所述第二测区内,所述第二激发场源位于所述第一测区内,勘探目标在所述第一测区或所述第二测区内;
基于所述第一测区数据建立所述第一测区的初始地电模型,基于所述第二测区数据建立所述第二测区的初始地电模型;利用所述第一测区的初始地电模型对所述第二测区数据进行带源反演,达到预设精度后获得所述第二测区的第一反演地电模型;利用所述第一反演地电模型对所述第一测区数据进行带源反演,达到所述预设精度后获得所述第一测区的第二反演地电模型;利用所述第一测区的第二反演地电模型对所述第二测区数据进行带源反演,达到所述预设精度后获得所述第二测区的第三反演地电模型;利用第二测区的第三反演模型对所述第一测区数据进行带源反演,达到所述预设精度后获得所述第一测区的第四反演地电模型;直至反演拟合结果达到终止精度后终止,输出反演模型,从而获得所述第一测区和所述第二测区的反演结果。
2.根据权利要求1所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,在通过布设在第一激发场源辐射范围内的第一测区中的检测点,获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区中的第一测区数据之前,所述方法还包括:
基于所述勘探目标的位置设置所述第一激发场源;
基于所述第一激发场源的位置设置所述第二激发场源。
3.根据权利要求2所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,基于所述勘探目标的位置设置所述第一激发场源,包括:
确定所述勘探目标的第一深度,在与所述勘探目标的垂直距离大于第一距离处设置第一激发场源,所述第一距离为所述第一深度的第一预设倍数,所述垂直距离为所述第一激发场源的中点与所述第一测区的垂直距离。
4.根据权利要求3所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定所述第一激发场源的中垂线,将所述中垂线中过所述第一激发场源的中点向所述勘探目标方向延伸,且延伸长度为所述第一距离的线段作为高,将所述中点作为顶点,将预设角度作为顶角,构建沿所述高对称的等腰三角形;
将所述等腰三角形中所述顶角的对边作为所述第一测区的长,以长度为第二距离的线段作为所述第一测区的宽,所述第二距离作为所述第一深度的第二预设倍数,确定所述第一测区为所述长、所述宽围合形成的矩形区域。
5.根据权利要求2所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,基于所述第一激发场源的位置设置所述第二激发场源,包括:
在与所述第一激发场源的垂直距离大于第一距离处设置第二激发场源,所述第一距离为所述勘探目标的第一深度的第一预设倍数,所述垂直距离为所述第二激发场源的中点与所述第二测区的垂直距离。
6.根据权利要求4所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,所述方法还包括:
确定所述第二激发场源的中垂线,将所述中垂线中过所述第二激发场源的中点向所述第一激发场源方向延伸,且延伸长度为所述第一距离的线段作为高,将所述中点作为顶点,将预设角度作为顶角,构建沿所述高对称的等腰三角形;
将所述等腰三角形中所述顶角的对边作为所述第二测区的长,以长度为所述第二距离的线段作为所述第二测区的宽,确定所述第二测区为所述长、所述宽围合形成的矩形区域。
7.根据权利要求1所述的可控源电磁测量方法,其特征在于,在获取带有所述第一激发场源的场源效应的所述第一测区的第一测区数据之前,所述方法还包括:
基于地质任务类型、勘探目标类型、地形地貌信息分别确定所述第一测区和所述第二测区的检测点密度;
基于所述检测点密度分别在所述第一测区和所述第二测区内设置检测点,所述检测点包括用于采集电磁场数据的电磁场采集站。
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