[发明专利]一种岩石结构面粗糙度系数精细化表征方法在审

专利信息
申请号: 201910162055.5 申请日: 2019-03-04
公开(公告)号: CN109859301A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 吕庆;吴禄祥;蔡学桁;郑俊 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06T15/10 分类号: G06T15/10;G06T15/08;G06T19/20
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 33212 代理人: 周世骏
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 岩石结构面 三维点云数据 粗糙度系数 岩石工程 精细化 预处理 抗剪强度参数 三维扫描技术 变异系数 点云数据 技术支撑 频率分布 形貌数据 形貌特征 岩石结构 坐标数据 粗糙度 计算点 结构面 轮廓线 直方图 方差 抗剪 网格 编程 排序 绘制 应用
【权利要求书】:

1.一种岩石结构面粗糙度系数精细化表征方法,其特征在于,包括下述步骤:

(1)获取岩石结构面的形貌数据

在工程岩石结构分析的基础上,扫描获取拟测量岩石结构面的形貌数据,并存储为st1格式的三维点云数据文件;

(2)对三维点云数据进行预处理

结合扫描时预留的定位靶点或标志确定分析区域,删除分析区域外的多余数据;调整三维点云数据文件坐标系,使分析区域的岩石结构面与水平面平行,将处理后的数据保存为dxf格式的点云数据文件;

(3)对点云数据进行网格疏化处理

根据精度要求确定点云数据间隔;基于稀疏点云数据密度原理,在原有点云数据中保留所需位置的数据点并删除多余位置的数据点;重构满足间隔要求的点云数据,并将其保存为dat格式的坐标数据文件进行输出;

(4)对坐标数据进行正则排序操作:

首先构建出一个n×3的空矩阵,其中n为总点数;矩阵中每一行代表一个点的坐标数据,第一列代表x坐标,第二列代表y坐标,第三列代表z坐标;搜索y坐标的最小值y0,令y0作为矩阵的第一行第二列的元素,从y坐标为y0的所有点中选出x坐标最小的值x0,令x0作为第一行第一列元素,同时令x坐标为x0,y坐标为y0对应的该点的z坐标z0作为第一行第三列元素;令y0作为第二行第二列元素,y坐标为y0的所有点中选出x坐标第二小的值x1作为第二行第一列元素,令x坐标为x1,y坐标为y0对应点的z坐标z1作为第二行第三列元素;以此类推,直到y坐标为y0的所有点坐标都已经放入矩阵,再将下一行第二列元素换成所有y坐标中的次小值y1,同理直到将所有的点坐标放入该n×3矩阵,完成正则排序处理;所得到的坐标数据用于计算沿x轴方向的结构面轮廓线JRC值;如要对沿y轴方向的结构面轮廓线JRC值进行计算分析,则先进行类似的正则排序操作;

(5)计算点云数据中所有结构面轮廓线的JRC值

先计算所有结构面轮廓线的特征参数Z2,Z2为一阶导数均方根;然后基于Z2由估算公式计算出每条结构面轮廓线的JRC值;其中,

对于y坐标相同x坐标不同的点构成x方向上的结构面轮廓线,根据以下公式计算Z2和JRC值:

JRC=65.18tan(Z2)-3.88

式中,L为曲线投影长,N为线段上的点个数,i为自然数;

对于x坐标相同y坐标不同的点构成y方向上的结构面轮廓线,根据以下公式计算Z2和JRC值:

JRC=65.18tan(Z2)-3.88

其中,L为曲线投影长,N为线段上的点个数,i为自然数;

通过上述计算,获得整个岩石结构面上的数千条不同位置轮廓线的JRC值;

(6)绘制JRC数值频率分布直方图

通过对数千个JRC值进行统计分析,计算出均值、方差和变异系数;绘制JRC数值频率分布直方图,并以此实现整个岩石结构面JRC值的精细化表征。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中,是利用三维激光扫描仪或三维结构光扫描仪对岩石结构面进行扫描,获取所要测量的形貌数据。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中,进行网格疏化处理时,为了确保重构后的点云数据精度,应从小采样间距向大间距进行稀疏处理,且使采样间隔差值为最小间隔的整数倍。

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