[发明专利]一种芯片、芯片调试方法及装置、设备、介质

权利要求书

1.一种芯片调试方法，其特征在于，所述芯片的内部设置有调试模块，所述调试模块分别连接所述芯片的内部的总线，以及设置于所述芯片的外部的调试接口，所述方法包括：

通过所述调试接口，向所述调试模块发送调试命令；

由所述调试模块根据所述调试模块的寄存器和所述调试命令，与所述总线进行相应的数据交互操作，并将通过所述交互操作得到的调试结果数据保存于所述寄存器中；所述调试模块的至少部分寄存器用于保存所述数据交互操作针对的地址；

通过所述调试接口，从所述寄存器中读取所述调试结果数据至所述芯片的外部。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试接口包含时钟通道和数据通道；

所述通过所述调试接口，向所述调试模块发送调试命令，包括：

利用所述调试接口包含的时钟通道和数据通道，通过访问所述寄存器，向所述调试模块发送调试命令。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试命令指示了针对所述芯片的内部的以下至少一种操作：数据读操作、数据写操作。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述调试命令指示了所述数据交互操作针对的地址信息，所述地址信息包括所述总线上的指定地址、所述调试模块的指定寄存器的地址。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述由所述调试模块根据所述调试模块的寄存器和所述调试命令，与所述总线进行相应的交互操作，包括：

由所述调试模块根据所述总线上的指定地址，以及所述调试模块的指定寄存器的地址，执行：

将从所述调试命令中获取的待写入的数据保存于所述指定寄存器中，再从所述指定寄存器中将该数据向所述总线上的指定地址写入，将写入成功与否的结果作为至少部分所述调试结果数据；和/或，

从所述总线上的指定地址读出待读出的数据，将所读出的数据与读出成功与否的结果，作为至少部分所述调试结果数据。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述寄存器还用于保存所述数据交互操作的控制信号和状态信号。

7.如权利要求1～6任一项所述的方法，其特征在于，所述调试命令用于调试所述芯片的以下至少一种功能：启动、复位、配置。

8.一种芯片调试装置，其特征在于，所述芯片的内部设置有调试模块，所述调试模块分别连接所述芯片的内部的总线，以及设置于所述芯片的外部的调试接口，所述装置包括：

发送模块，通过所述调试接口，向所述调试模块发送调试命令；

交互模块，由所述调试模块根据所述调试模块的寄存器和所述调试命令，与所述总线进行相应的数据交互操作，并将通过所述交互操作得到的调试结果数据保存于所述寄存器中；所述调试模块的至少部分寄存器用于保存所述数据交互操作针对的地址；

读取模块，通过所述调试接口，从所述寄存器中读取所述调试结果数据至所述芯片的外部。

9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述调试接口包含时钟通道和数据通道；

所述发送模块通过所述调试接口，向所述调试模块发送调试命令，包括：

所述发送模块利用所述调试接口包含的时钟通道和数据通道，通过访问所述寄存器，向所述调试模块发送调试命令。

10.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述调试命令指示了针对所述芯片的内部的以下至少一种操作：数据读操作、数据写操作。

11.如权利要求10所述的装置，其特征在于，所述调试命令指示了所述数据交互操作针对的地址信息，所述地址信息包括所述总线上的指定地址、所述调试模块的指定寄存器的地址。