[发明专利]厚度测量装置在审
申请号: | 201910164674.8 | 申请日: | 2019-03-05 |
公开(公告)号: | CN109883293A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 蒋雨晴;陈伟;马超;舒畅 | 申请(专利权)人: | 重庆零壹空间航天科技有限公司 |
主分类号: | G01B5/06 | 分类号: | G01B5/06;G01B5/18;G01B5/00 |
代理公司: | 北京卓唐知识产权代理有限公司 11541 | 代理人: | 唐海力;李志刚 |
地址: | 401135 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 拱形基座 圆形凸台 厚度测量装置 量具 测量 测点位置 待测产品 滑动连接 技术效果 配合间隙 使用不便 转动连接 基准面 测点 申请 匹配 平整 采集 统一 | ||
本申请公开了一种厚度测量装置。该装置包括:用于与待测产品的圆形凸台的外径相匹配的拱形基座,以及和所述拱形基座相连的量具,所述量具和所述拱形基座滑动连接,所述拱形基座和所述圆形凸台转动连接;所述拱形基座和所述圆形凸台具有配合间隙。达到了无需保持测点平整,可统一基准面,且能方便的采集测点位置数据的目的,从而实现了测量误差小,适用面广,且使用方便的技术效果。本申请解决了测量误差大,适用面较小,且使用不便的技术问题。
技术领域
本申请涉及厚度测量领域,具体而言,涉及一种厚度测量装置。
背景技术
目前产品试前使用测厚仪测量厚度,试后对产品进行解剖并用量具测量厚度,根据试验前后数据计算得到烧蚀率。
测厚仪测量厚度时,需要测点平整,测厚仪与测量位置贴合情况良好。量具测量厚度需要的基准面在测量绝热层与喷管时较难选取。两种测量工具不便于采集测点位置数据。因而上述两种工具用于喷管与后封头绝热层厚度测量时误差较大,适用面较小,使用不便。
针对相关技术中的测量误差大,适用面较小,且使用不便的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种厚度测量装置,以解决测量误差大,适用面小,且使用不便的问题。
为了实现上述目的,根据本申请的一个方面,提供了一种厚度测量装置。
根据本申请的厚度测量装置包括:用于与待测产品的圆形凸台的外径相匹配的拱形基座,以及和所述拱形基座相连的量具,所述量具和所述拱形基座滑动连接,所述拱形基座和所述圆形凸台转动连接;所述拱形基座和所述圆形凸台具有配合间隙。
进一步的,所述量具为深度尺或内径尺。
进一步的,所述量具包括:卡扣部和测深部,所述卡扣部和所述测深部一体成型,所述测深部从所述拱形基座的凹槽中穿过,所述卡扣部卡合于所述凹槽的周围。
进一步的,所述凹槽的长度略大于所述圆形凸台的外径。
进一步的,所述待测产品为喷管内型面。
进一步的,所述待测产品为封头内型面。
进一步的,所述拱形基座包括:支撑脚和滑动梁,所述支撑脚和所述滑动梁一体成型,所述滑动梁和所述量具滑动连接,所述支撑脚所述圆形凸台转动连接;所述滑动梁和所述圆形凸台之间具有配合间隙。
进一步的,所述支撑脚与所述待测产品的基准面贴合。
在本申请实施例中,采用拱形基座和量具相结合的方式,通过拱形基座与待测产品的圆形凸台的外径相匹配,所述量具和所述拱形基座滑动连接,所述拱形基座和所述圆形凸台转动连接,所述拱形基座和所述圆形凸台具有配合间隙,达到了无需保持测点平整,可统一基准面,且能方便的采集测点位置数据的目的,从而实现了测量误差小,适用面广,且使用方便的技术效果,进而解决了测量误差大,适用面较小,且使用不便的技术问题。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解,使得本申请的其它特征、目的和优点变得更明显。本申请的示意性实施例附图及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:
图1是根据本申请实施例的厚度测量装置使用示意图之一;
图2是根据本申请实施例的厚度测量装置使用示意图之一;
图3是根据本申请实施例的厚度测量装置结构示意图;
图4是根据本申请实施例的拱形基座侧视图;
图5是根据本申请实施例的拱形基座俯视图。
附图标记
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