[发明专利]一种存储器的干扰死机的测试方法

权利要求书

1.一种存储器的干扰死机的测试方法，应用于双倍速率同步动态随机存储器，所述双倍速率同步动态随机存储器设置有多种信号线，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

步骤S1，将所述双倍速率同步动态随机存储器的至少一根所述信号线进行短路处理；

步骤S2，对所述双倍速率同步动态随机存储器进行读写操作；

步骤S3，记录所述双倍速率同步动态随机存储器响应每次所述读写操作的每个测试结果；

所述测试结果包括屏幕显示结果和串口打印提示。

2.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：将每根所述信号线同时进行短路处理。

3.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述步骤S1具体包括：将每根所述信号线依次进行短路处理。

4.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，在步骤S3后包括：步骤S4，将所述测试结果填入一表格中。

5.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述信号线包括地址线、数据线、电源线、时钟信号线、数据选通线、BA0线、列地址信号线、行地址信号线、时钟使能信号线、片内端接信号线片选信号线、复位线、WE线和基准电压信号线。

6.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述屏幕显示结果包括画面显示和屏幕变色。

7.如权利要求6所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述画面显示包括画面消失、画面静止和画面闪屏。

8.如权利要求6所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述屏幕变色后的颜色包括绿色、红色、蓝色、白色和灰色。

9.如权利要求1所述的存储器的干扰死机的测试方法，其特征在于，所述串口打印提示包括串口打印卡死并无报错打印，以及串口打印内核出错并拿不到数据。