[发明专利]Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质

说明书

本发明公开了一种Android设备产测方法，包括：Android设备系统开机后，读取USB接口状态；当所述USB接口的D+和D‑引脚未短接时，读取预设标志位；当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。本发明还公开了一种Android设备产测装置、Android设备及计算机可读存储介质。本发明提高了Android设备产线生产、维修的效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质。

背景技术

随着Android系统市场占有率提升，Android设备得到了广泛应用。目前，Android设备在生产出货前，一般将Android设备配置为用户模式，并进行质检，而Android设备一旦进入用户模式，就无法再进入工厂测试模式，若Android设备质检出现问题，通常需要拆开Android设备，更换Android设备的主板，这些操作耗时费力，从而导致Android设备质检效率低。

发明内容

本发明的主要目的是提供一种Android设备及其产测方法、装置、计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中Android设备质检效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提出Android设备产测方法，所述Android设备产测方法包括以下步骤：

Android设备系统开机后，读取USB接口状态；

当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位；

当所述预设标志位为非空值时，进入工厂测试模式。

可选地，所述当所述USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位的步骤之后，还包括：

当所述预设标志位为空值时，进入用户模式。

可选地，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：

当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，进入工厂测试模式。

可选地，所述Android设备系统开机后，读取USB接口状态的步骤之后，还包括：

当所述USB接口的D+和D-引脚短接时，重新赋值所述预设标志位。

可选地，所述预设标志位为flag标志。

此外，为实现上述目的，本发明还提出一种Android设备产测装置，所述Android设备产测装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种Android设备，所述Android设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被所述处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。

此外，为实现上述目的，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有Android设备产测程序，所述Android设备产测程序被处理器执行时实现如上文所述的Android设备产测方法的步骤。

本发明技术方案中，当Android设备系统开机后，通过系统BootLoader读取USB接口状态，当USB接口的D+和D-引脚未短接时，读取预设标志位，若预设标志位为非空值，则进入工厂测试模式，在工厂测试模式下对Android设备进行质检，从而省去了拆开Android设备，更换Android设备的主板等操作，节省了时间成本，提高了Android设备的质检效率。

附图说明