[发明专利]燃料组件的定位格架优化方法及装置

权利要求书

1.一种燃料组件的定位格架优化方法，其特征在于，所述定位格架由多个定位格架单元排布构成，该方法包括：

获取与所述定位格架单元一一对应的初始化数据，其中所述初始化数据包括相应的定位格架单元的物理模型和几何流域参数；

建立预先设置的多组定位格架模型，所述定位格架模型是由所述定位格架单元的物理模型按照不同排布方式构成的；

对于每个定位格架模型，对所述定位格架模型在径向划分得到多个子通道，根据所述初始化数据计算定位格架的每个子通道的阻力系数；

根据每个所述阻力系数从所述多组定位格架模型中选取最优定位格架模型；

其中，所述定位格架单元的物理模型如下：

其中ΔP代表上表面压力和下游表面压力的差，ζ代表所述子通道的阻力系数，v代表区域流体速度，ρ代表流体密度；

其中，根据所述初始化数据计算每个子通道的阻力系数的步骤包括：

将所述几何流域参数输入到所述定位格架的物理模型中进行绝热稳态计算至收敛，得到所述定位格架单元对应的子通道的阻力系数；

根据所述定位格架单元对应的子通道的阻力系数确定定位格架的每个子通道的阻力系数；

其中，对于每个定位格架模型，对所述定位格架模型在径向划分得到多个子通道，根据所述初始化数据计算定位格架的每个子通道的阻力系数的步骤包括：

将所述初始化数据以及所述定位格架单元对应的子通道的阻力系数输入至子通道程序定位格架模型中，计算得到定位格架的每个子通道的阻力系数。

2.根据权利要求1所述的燃料组件的定位格架优化方法，其特征在于，所述子通道的阻力系数计算公式包括：

ζ＝ΔP×2g_c/(ρ×v²)

其中ΔP代表上表面压力和下游表面压力的差，ζ代表所述子通道阻力系数，v代表区域流体速度，ρ代表流体密度。

3.根据权利要求1所述的燃料组件的定位格架优化方法，其特征在于，根据每个所述阻力系数从所述多组定位格架模型中选取最优定位格架模型的步骤包括：

根据每个所述阻力系数计算每个定位格架模型的偏离泡核沸腾比；

根据每个定位格架模型的偏离泡核沸腾比，从所述多组定位格架模型中选取最优定位格架模型。

4.一种燃料组件的定位格架优化装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取与所述定位格架单元一一对应的初始化数据，其中所述初始化数据包括相应的定位格架单元的物理模型和几何流域参数；

建立模块，用于建立预先设置的多组定位格架模型，所述定位格架模型是由所述定位格架单元的物理模型按照不同排布方式构成的；

计算模块，用于对于每个定位格架模型，对所述定位格架模型在径向划分得到多个子通道，根据所述初始化数据计算定位格架的每个子通道的阻力系数；

选取模块，用于根据每个所述阻力系数从所述多组定位格架模型中选取最优定位格架模型；

其中，所述定位格架单元的物理模型如下：

其中ΔP代表上表面压力和下游表面压力的差，ζ代表所述子通道的阻力系数，v代表区域流体速度，ρ代表流体密度；

其中，所述选取模块包括：

计算单元，用于根据每个所述阻力系数计算每个定位格架模型的偏离泡核沸腾比；

选取单元，用于根据每个定位格架模型的偏离泡核沸腾比，从所述多组定位格架模型中选取最优定位格架模型；

其中，所述计算模块还用于：

将所述初始化数据以及所述定位格架单元对应的子通道的阻力系数输入至子通道程序定位格架模型中，计算得到定位格架的每个子通道的阻力系数。

5.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述权利要求1至3任一项所述的方法。

6.一种具有处理器可执行的非易失的程序代码的计算机可读介质，其特征在于，所述程序代码使所述处理器执行所述权利要求1-3任一所述的方法。