[发明专利]评价透明基体的光学特性的方法

权利要求书

1.一种评价透明基体的光学特性的方法，其特征在于，

顺序不同地具有如下步骤：

取得透明基体的定量化的防眩性指标值的步骤，所述透明基体具有第一及第二表面且所述第一表面被进行了防眩光处理；及

取得所述透明基体的定量化的眩光指标值的步骤，

所述定量化的防眩性指标值通过如下步骤得到：

(a)从具有第一及第二表面的透明基体的所述第一表面侧沿着相对于所述透明基体的厚度方向成20°的方向照射第一光，并测定由所述第一表面反射的20°正反射光的亮度的步骤；

(b)使由所述第一表面反射的反射光的受光角度在-20°～+60°的范围内变化，测定由所述第一表面反射的全部反射光的亮度的步骤；及

(c)根据以下的式(1)，推算防眩性指标值R的步骤，

防眩性指标值R＝(全部反射光的亮度-20°正反射光的亮度)/(全部反射光的亮度)式(1)，

所述定量化的眩光指标值通过如下的步骤得到：

(A)将所述透明基体以使所述第二表面位于显示装置侧的方式配置在所述显示装置上的步骤；

(B)在使所述显示装置打开的状态下，使用固体摄像元件拍摄所述透明基体，取得第一图像的步骤，且在将所述固体摄像元件与所述透明基体之间的距离设为d、将所述固体摄像元件的焦距设为f时，拍摄时的距离指数r(＝d/f)为8以上的步骤；

(C)根据所述取得的第一图像形成第一亮度分布的步骤；

(D)使所述透明基体沿着与所述第二表面大致平行的方向移动，使所述透明基体相对于所述显示装置移动的步骤；

(E)重复进行所述(B)及(C)的步骤，根据取得的第二图像形成第二亮度分布的步骤；

(F)根据所述第一亮度分布与所述第二亮度分布的差分，求出差分亮度分布ΔS的步骤；

(G)根据所述差分亮度分布ΔS，推算平均亮度分布ΔS_ave及标准差σ，并且根据以下的式(2)得到输出值A的步骤，

输出值A＝标准差σ/平均亮度分布ΔS_ave 式(2)

(H)在基准用的防眩光处理后的透明基体实施所述(A)～(G)的步骤，并取代输出值A而得到参照输出值Q的步骤，且该(H)的步骤是在所述(A)～(G)的步骤之前实施或者与所述(A)～(G)的步骤并列地实施的步骤；及

(I)根据以下的式(3)求出眩光指标值G的步骤，

眩光指标值G＝(输出值A)/(参照输出值Q)式(3)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

在所述(G)的步骤之前，实施如下所述步骤：从所述差分亮度分布ΔS之中，将由来于所述显示装置的成分滤波除去，得到实效差分亮度分布ΔS_e的步骤，

在所述(G)的步骤中，取代所述差分亮度分布ΔS而使用所述实效差分亮度分布ΔS_e。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

使用测角器取得所述防眩性指标值。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述显示装置是选自由LCD装置、OLED装置、PDP装置及平板型显示装置构成的组中的一个装置。

5.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述显示装置具有132ppi以上的析像度。

6.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述透明基体由钠钙玻璃或铝硅酸盐玻璃构成。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述透明基体的第一及第二表面中的至少一方被进行化学强化处理。

8.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，

所述防眩光处理通过对于所述透明基体的第一表面应用选自由磨砂处理、蚀刻处理、喷砂处理、抛光处理及硅涂层处理构成的组中的至少一个处理方法来实施。