[发明专利]一种基于移动平台的单粒子效应测试装置及方法在审
申请号: | 201910171410.5 | 申请日: | 2019-03-07 |
公开(公告)号: | CN109900986A | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 莫丹;刘杰;孙友梅;段敬来;姚会军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院近代物理研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/303 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 谢斌 |
地址: | 730000 *** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 移动平台 单粒子效应测试 测试器件 试验桌 辐照单元 器件夹具 测量单元 待测芯片 高度信息 空间位置 离子束流 试验费用 转动操作 平移 束流 测量 输出 记录 试验 | ||
1.一种基于移动平台的单粒子效应测试装置,包括试验桌(4),其特征在于,还包括:
移动平台(3),设置在所述试验桌(4)的一侧,所述移动平台(3)上设有可转动的器件夹具(8),测试器件(7)通过所述器件夹具(8)固定在所述移动平台(3)上,以实现所述测试器件(7)的空间位置平移和转动操作;
辐照单元(10),设置在所述试验桌(4)的另一侧,用于输出离子束流;
测量单元(20),设置在所述移动平台(3)和辐照单元(10)之间的所述试验桌(4)上,用于记录和测量所述测试器件(7)上单个或多个待测芯片的位置信息和高度信息。
2.根据权利要求1所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,所述辐照单元(10)包括用于保持真空环境的束流管道(1),以及设置在所述束流管道(1)的出口前方并用于引出离子束流的真空窗(2)。
3.根据权利要求2所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,所述测量单元(20)包括用于记录所述测试器件(7)上单个或多个待测芯片位置信息的定位摄像头(5)和用于测量所述测试器件(7)上单个或多个待测芯片高度信息的测距仪(6)。
4.根据权利要求3所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,所述定位摄像头(5)具有智能视觉传感器,能够采集所述测试器件(7)的二维平面图,并保存用户选择的待测芯片的位置信息。
5.根据权利要求3所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,所述测距仪(6)通过激光测量待测芯片表面和所述器件夹具(8)基准面之差,自动计算出待测芯片的高度,待测芯片的高度范围为0-5厘米。
6.根据权利要求3到5任一项所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,所述移动平台(3)的最大承重重量为1公斤-30公斤,定位精度为0.025毫米-0.5毫米;所述移动平台(3)在沿所述试验桌(4)的两个水平方向以及垂直于桌面的方向的最大行程为0.5米-2米。
7.一种基于移动平台的单粒子效应测试方法,采用如权利要求3到6任一项所述的单粒子效应测试装置,其特征在于,该方法包括以下步骤:
步骤一:通过器件夹具(8)将测试器件(7)固定在位移平台(3)上;
步骤二:通过位移平台(3)移动测试器件(7)到定位摄像头(5)下方拍照,记录测试器件(7)上待测芯片的位置信息;
步骤三:将测试器件(7)通过位移平台(3)移动到测距仪(6)下方,测量测试器件(7)所选取的一个或多个待测芯片的高度信息;
步骤四:将测试器件(7)通过位移平台(3)移动到真空窗(2)正前方位置;
步骤五:选取测试器件(7)上的待测芯片作为测试对象,通过第二步和第三步记录待测芯片的位置信息和高度信息,位移平台(3)将测试器件(7)移动和旋转到设定的辐照距离和辐照角度;
步骤六:束流从经过真空窗(2)从束流管道(1)引出,辐照到待测芯片上,测试器件的单粒子效应。
8.根据权利要求7所述的单粒子效应测试方法,其特征在于,所述测试器件(7)含有一个或多个待测芯片;所述辐照角度范围为0-90度,所述辐照距离为0-1米。
9.根据权利要求7所述的单粒子效应测试方法,其特征在于,所述束流种类包括Ar、Kr、Xe、Bi,能量范围为1-2000兆电子伏/核子。
10.根据权利要求7所述的单粒子效应测试方法,其特征在于,所述单粒子效应测试装置的工作环境为大气条件,温度为5℃-40℃,相对湿度为0-75%。
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