[发明专利]一种改进圆盘卡法的CT空间分辨率测量方法有效

专利信息
申请号: 201910171729.8 申请日: 2019-03-07
公开(公告)号: CN109884090B 公开(公告)日: 2021-06-29
发明(设计)人: 曾理;程武昌;沈宽;龚长城 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01N23/046
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 赵荣之
地址: 400044 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 改进 圆盘 ct 空间 分辨率 测量方法
【权利要求书】:

1.一种改进圆盘卡法的CT空间分辨率测量方法,其特征在于:该方法具体包括以下步骤:

S1:安装并开启CT检测装置,使得射线源(1)产生的有合适的角度的扇形束射线能够覆盖圆盘卡(3)的全部区域,这个角度设为;

S2:扇形束射线扫描,使射线源(1)与曲面探测器(2)绕圆盘卡(3)的圆心至少旋转来获得完整的投影数据,并传送到控制及图像处理系统(4)中存储;

S3:重建圆盘卡的二维图像:根据得到的投影数据利用扇形束滤波反投影(filteredback projection,FBP)算法重建圆盘卡的二维图像;

S4:利用相对全变差( Relative Total Variation,RTV)算法来得到去噪后的灰度图像,计算公式为:

其中,I表示输入图像,p表示2D图像像素点的索引,S表示输出结构图像,ε固定为0.001;λ表示权重,及

其中,q表示以p点为中心的一个正方形区域R(p)内所有的像素点的索引,R(p)为以p点为中心给定长度的正方形区域,此处长度根据实际情况设置;和分别表示输出结构图像S在待重建点的二维坐标xy方向的偏导在q点处的值;

高斯核函数:

其中,和分别为p点和q点在图像中的横纵坐标,σ为R(p)区域灰度图像的标准方差,exp为自然数e

S5:使用改进的圆盘卡法对重建的二维图像和去噪后的灰度图像进行计算,得到圆盘卡边缘的平均灰度值;

S6:计算边缘相应函数(edge response function, ERF)和点扩展函数(point spreadfunction, PSF)曲线,得到圆盘卡的MTF曲线和CT空间分辨率。

2.根据权利要求1所述的一种改进圆盘卡法的CT空间分辨率测量方法,其特征在于:步骤S1中所述的检测装置包括射线源(1)、曲面探测器(2)以及控制及图像处理系统(4),所述射线源(1)、曲面探测器(2)的信号线路与控制与图像处理系统(4)相连,射线源(1)中心与圆盘卡(3)的圆心连线与曲面探测器(2)大致垂直,射线源(1)与曲面探测器(2)绕圆盘卡(3)圆心旋转,使得射线源(1)产生的有合适的角度的扇形束射线能够覆盖圆盘卡的全部区域,这个角度设为。

3.根据权利要求2所述的一种改进圆盘卡法的CT空间分辨率测量方法,其特征在于:所述步骤S2具体包括:在控制及图像处理系统(4)的控制下,首先将射线源(1)中心对准曲面探测器(2)的中心,射线源(1)与圆盘卡(3)的圆心连线与曲面探测器(2)大致垂直,射线源与曲面探测器(2)绕圆盘卡(3)的圆心旋转至少来获得完整的投影数据,然后传送到控制及图像处理系统(4)中存储。

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