[发明专利]用于执法记录仪存储介质的坏区标识方法及系统

权利要求书

1.一种用于执法记录仪存储介质的坏区标识方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：将所述存储介质的所有n个扇区进行编号，将每m个扇区作为一个扇区组，将扇区分为n/m个扇区组；

步骤S2：并行将1，2，3，……，m数字顺序写入一个扇区组；

步骤S3：并行读取该扇区组的m个数字；

步骤S4：比较读取的m个数字，是否按1，2，3，……，m数字串排列；

步骤S5：如果顺序正确，则回到所述步骤S2，继续测试下一个扇区组；如果出现错误，则将此扇区加入到坏区标记列表中，然后回到所述步骤S2，继续测试下一个扇区组，直到所述存储介质中所有扇区标识完成；

在对所述存储介质进行坏区标识时，先对所述存储介质进行扫描，如果无用户数据，则自动执行坏区标识；如果有用户数据，则会暂缓执行坏区标识动作，然后在所述执法记录仪每次开机时进行扫描，直到所述存储介质中无用户数据，执行坏区标识为止；

还包括定期对所述坏区标记列表中的扇区进行坏区复查，所述复查包括以下步骤：

步骤P1：选择所述坏区标记列表中的一个扇区；

步骤P2：将任一数字写入该扇区；

步骤P3：读取该扇区的数字，如果该扇区读取的数字与写入的数字相同，则校验正确，认为该扇区写读正常一次，然后回到所述步骤P2，往复一次以上，均校验正确，则认为该扇区恢复成好扇区，将该扇区从所述坏区标记列表中移除；如果校验失败，则回到所述步骤P1，复查所述坏区标记列表中的另一个扇区。

2.根据权利要求1所述的坏区标识方法，其特征在于，定期对所述存储介质进行坏区标识，更新所述坏区标记列表。

3.一种执法记录仪，其特征在于，包括MCU和存储介质，所述MCU用于执行权利要求1-2任一所述的坏区标识方法。

4.根据权利要求3所述的执法记录仪，其特征在于，所述MCU还用于实时智能分析所述坏区标记列表中的扇区在所述存储介质总扇区中的分布情况，当所述坏区标记列表中的扇区超过存储介质总扇区第一特定值时，所述执法记录仪会提示所述存储介质坏区情况严重；当所述坏区标记列表中的扇区超过所述存储介质总扇区第二特定值时，所述执法记录仪开机时会提示所述存储介质已损坏，不能进行存储操作。

5.一种用于执法记录仪存储介质的坏区快速标识方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤T1：选择一个没有坏扇区标记的扇区组，该扇区组中包含m个扇区；

步骤T2：并行将1，2，3，……，m数字顺序写入该扇区组；

步骤T3：并行读取该扇区组所有m个数字；

步骤T4：比较读取的m个数字，是否按1，2，3，……，m数字串排列；

步骤T5：如果顺序正确，则将此扇区组标记为优先存储扇区组；如果出现错误，则将检测到的扇区加入到坏区标记列表中，然后选择另一个没有坏扇区标记的扇区组，从所述步骤T1继续测试；

在对所述存储介质进行坏区标识时，先对所述存储介质进行扫描，如果无用户数据，则自动执行坏区标识；如果有用户数据，则会暂缓执行坏区标识动作，然后在所述执法记录仪每次开机时进行扫描，直到所述存储介质中无用户数据，执行坏区标识为止；

还包括定期对所述坏区标记列表中的扇区进行坏区复查，所述复查包括以下步骤：

步骤P1：选择所述坏区标记列表中的一个扇区；

步骤P2：将任一数字写入该扇区；

步骤P3：读取该扇区的数字，如果该扇区读取的数字与写入的数字相同，则校验正确，认为该扇区写读正常一次，然后回到所述步骤P2，往复一次以上，均校验正确，则认为该扇区恢复成好扇区，将该扇区从所述坏区标记列表中移除；如果校验失败，则回到所述步骤P1，复查所述坏区标记列表中的另一个扇区。

6.一种执法记录仪，其特征在于，所述执法记录仪上设置有紧急坏区快速检验按钮，当所述按钮被按动后，所述执法记录仪执行权利要求5所述的坏区快速标识方法。