[发明专利]一种多参数水质剖面仪的pH校正方法有效

专利信息
申请号: 201910177098.0 申请日: 2019-03-08
公开(公告)号: CN110057990B 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 孙雪;宋贵生;刘方方;秦钰;魏皓 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N33/18 分类号: G01N33/18
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 程毓英
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 参数 水质 剖面 ph 校正 方法
【说明书】:

发明涉及一种多参数水质剖面仪的pH校正方法,包括下列步骤:数据获取:利用多参数水质剖面仪获取观测海域各站点的pH剖面S;数据质量控制:通过剔除仪器测定过程中的感温数据、逆压校正数据、计算局部标准差去除大振幅奇异值等步骤,对S进行质量控制,质量控制结果用Q表示;数据平均:对Q中各站位下行数据进行滑动平均,处理结果用A表示;数据校正:以经过pH标准缓冲溶液校准过的台式pH计测定的海水pH值为基准,对A进行校正处理。

技术领域

本发明涉及海洋科学领域,具体涉及一种多参数水质剖面仪(简称RBR)的pH校正方法。

背景技术

pH表示水中酸性物质氢离子(H+)浓度的负对数(pH=log10[H+]),其作为水环境健康的重要指标,对海洋生物的生存和繁衍具有重要意义。关于海水pH值的测定,常规化学法多利用采水器采集水样,并使用台式pH计测定海水的pH值。由于台式pH计的探头价格较低、易于更换,故测量结果更加精准,但该方法耗时耗力且只能获取单点pH数据,具有较大的局限性。多参数水质剖面仪的问世为获取高频且连续的剖面数据提供了可能,目前已成为国际上应用最广泛的海洋调查仪器设备之一。该仪器包含温度、电导(盐度)、压力(深度)、溶解氧、有效光合作用辐照(PAR)、叶绿素、浊度、pH等多个探头,最多可以同时测定13个水下参数。由于其体积小巧,非常适合于近海水体快速调查、大面积调查、水质剖面观测、走航观测、拖体安装观测、浮标长期观测、海底长期监测等,但仪器长时间工作或位于温盐跃层处测定时,可能存在数据漂移或响应滞后现象。因此,现场调查过程中可以将两种方法相结合,以台式pH计测定的海水pH值为基准,对多参数水质剖面仪观测的pH 剖面进行校正,两者优势互补能够获取更高频且精确的pH剖面。

关于多参数水质剖面仪的pH校正,前人多采用“线性回归法”,而考虑到多参数水质剖面仪pH探头的实际测量误差,高pH更高,低pH更低,即测定过程中斜率发生变化,故该方法的相对误差较大,因此本发明采用“比值法”对多参数水质剖面仪观测的pH数据进行校正,可获取精度更高、质量更好的pH剖面,为研究海水理化性质提供良好的数据支持。

发明内容

有鉴于此,本发明提供了一种多参数水质剖面仪的pH校正方法,改善因仪器响应随时间漂移产生的测定误差,获取更高精度的pH剖面,为研究海水的理化性质提供更高频且精确的数据基础。本发明的技术方案如下:

一种多参数水质剖面仪的pH校正方法,包括下列步骤:

1)数据获取:利用多参数水质剖面仪获取观测海域各站点的pH剖面S;

2)数据质量控制:通过剔除仪器测定过程中的感温数据、逆压校正数据、计算局部标准差去除大振幅奇异值等步骤,对S进行质量控制,质量控制结果用Q表示;

3)数据平均:对Q中各站位下行数据进行滑动平均,处理结果用A表示;

4)数据校正:以经过pH标准缓冲溶液校准过的台式pH计测定的海水pH值为基准,对A进行校正处理,方法如下:

第1步:去除跃层数据,利用多参数水质剖面仪同步观测的温度、盐度、声速、水深数据,计算各站位的浮力频率N,并根据logN2-3确定海水中温度跃层的位置,去除A中跃层处的pH数据,处理结果用T表示,浮力频率的计算公式为:

式中,c0为声速,ρ为海水密度,z为水深,g为重力加速度,g2/co2一项量级甚小,忽略不计;

第2步:计算台式pH计测定的海水pH值与对应T中pH的比值,并将该比值定义为Ratio,即有:

式中,pHb为台式pH计测定的海水pH值,pHr指对应多参数水质剖面仪测定的海水pH值;

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