[发明专利]基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法在审
| 申请号： | 201910180542.4 | 申请日： | 2019-03-11 |
| 公开（公告）号： | CN111753488A | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 钱荣;钱华;严康;陈晶晶;王海滨;褚嘉敏 | 申请（专利权）人： | 江苏久创电气科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/367 | 分类号： | G06F30/367 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 213100 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 入射 粒子 线性 能量 转移 分布 估算 触发器 错误率 方法 | ||
1.基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法，其特征在于：通过模拟中子入射产生次级离子的过程，得到其线性能量转移LET值的概率分布，并通过TCAD仿真得到触发器的关键线性能量转移值LETcrit，随后对LET分布求得其概率密度分布函数fD(LET)，并进一步求得其累计概率密度分布函数fC(LET)，最后通过fC(LET)与触发器敏感面积的乘积得到触发器的软错误率SERFF；
其包括如下步骤：
第一步，利用GEANT4软件导入入射中子和器件结构，模拟中子入射后与器件材料发生核反应产生次级离子的过程，得到次级离子的线性能量转移LET值的概率分布；
第二步，通过TCAD软件进行单粒子翻转仿真导入触发器版图，得到关键线性能量转移值LETcrit；
第三步，对各单能量中子以中子差分通量为权重对能量这一积分变量进行积分，得到线性能量转移概率密度分布函数fD(LET)；再对fD(LET)做从关键线性能量转移值至正无穷的积分，得到线性能量转移的累计概率密度分布函数fC(LET)；
第四步，触发器的软错误率SERFF即为fC(LET)与触发器敏感面积的乘积，便于快速粗略估计触发器的软错误率。
2.如权利要求1 所述的基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法，其特征在于：第一步需要利用GEANT4软件导入入射中子和器件结构，模拟中子入射后与器件材料发生核反应产生次级离子的过程，得到次级离子的线性能量转移LET值的概率分布。
3.如权利要求1 所述的基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法，其特征在于：第二步需要通过TCAD软件进行单粒子翻转仿真导入触发器版图，得到关键线性能量转移值LETcrit。
4.如权利要求1 所述的基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法，其特征在于：第三步需要对各单能量中子以中子差分通量为权重对能量这一积分变量进行积分，得到线性能量转移概率密度分布函数；再对fD(LET)做从LETcrit至正无穷的积分，得到LET的累计概率密度分布函数。
5.如权利要求1 所述的基于入射粒子的线性能量转移分布估算触发器软错误率的方法，其特征在于：第四步通过计算fC(LET)与触发器敏感面积的乘积即可粗略得到触发器的软错误率SERFF。
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