[发明专利]超薄晶圆的制备方法在审

专利信息
申请号: 201910181783.0 申请日: 2019-03-11
公开(公告)号: CN109841559A 公开(公告)日: 2019-06-04
发明(设计)人: 刘东亮;缪炳有;滕乙超;魏瑀 申请(专利权)人: 浙江荷清柔性电子技术有限公司
主分类号: H01L21/683 分类号: H01L21/683;H01L21/78
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 舒丁
地址: 310018 浙江省杭州市经济技术开发*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 超薄晶圆 划片 减薄 预设 铁环 晶圆 制备 制备方法工艺 第一表面 干法抛光 厚度波动 裂纹问题 芯片封装 需求选择 支撑作用 保护膜 粗磨 胶膜 流转 贴膜 细磨 移除 制程 切割 支撑 申请 应用
【权利要求书】:

1.一种超薄晶圆的制备方法,其特征在于,包括:

提供晶圆(10),所述晶圆(10)具有相对设置的第一表面(110)与第二表面(120);

将所述第一表面(110)设置第一保护膜(20),将切割装置的切割面与所述第一保护膜(20)远离所述晶圆(10)的表面呈60°~85°进行切割,获得切割后的第二保护膜(210);

将所述晶圆(10)的所述第二表面(120)进行减膜,获得减膜后的第三晶圆(160);

将所述第三晶圆(160)远离所述第二保护膜(210)的表面采用固定环(30)进行绷膜,获得第一支撑膜(40);

根据所述固定环(30)对所述第一支撑膜(40)远离所述第三晶圆(160)的表面进行切割,获得切割后的第二支撑膜(410);

去除所述第三晶圆(160)的所述第二保护膜(210),获得超薄晶圆(100)。

2.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,在对所述第一保护膜(20)进行切割时,控制所述切割装置的切割温度在140℃~170℃内。

3.如权利要求2所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,沿所述晶圆(10)的边缘以30°/s的切割速度对所述第一保护膜(20)进行切割。

4.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,将所述第三晶圆(160)远离所述第二保护膜(210)的表面采用固定环(30)进行绷膜,获得第一支撑膜(40)包括:

根据第一预设厚度,采用砂轮直径为300mm,且粗粒度为325#~600#的金刚石砂轮,并以砂轮转速2000RPM~2400RPM,轴向进刀速度为1.5um/s~5um/s对所述晶圆(10)的所述第二表面(120)进行研磨,获得研磨后的第一晶圆(140);

根据第二预设厚度,采用砂轮直径为300mm,且粗粒度为2000#~8000#金刚石砂轮,并以砂轮转速2000RPM~3000RPM,轴向进刀速度为0.2um/s~0.4um/s对远离所述第二保护膜(210)的所述第一晶圆(140)的表面进行研磨,获得研磨后的第二晶圆(150);

根据第三预设厚度,对所述第二晶圆(150)进行研磨,获得减膜后的所述第三晶圆(160)。

5.如权利要求4所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,根据所述第三预设厚度,采用干式抛光磨轮方式,并以砂轮直径为450mm,磨轮转速为1500RPM~2500RPM,轴向进刀速度为0.1um/s~0.2um/s对所述第二晶圆(150)进行研磨,获得减膜后的所述第三晶圆(160)。

6.如权利要求4所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第一预设厚度的范围为所述晶圆(10)厚度与所述第二保护膜(210)厚度之和至所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与50um之和。

7.如权利要求6所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第二预设厚度的范围为所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与50um之和至所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与10um之和。

8.如权利要求7所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第三预设厚度的范围为所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与10um之和至所述超薄晶圆(100)厚度与所述第二保护膜(210)厚度之和。

9.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述超薄晶圆(100)的厚度范围为20um~40um。

10.如权利要求7所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,,所述超薄晶圆(100)的厚度为35um。

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