[发明专利]超薄晶圆的制备方法在审
申请号: | 201910181783.0 | 申请日: | 2019-03-11 |
公开(公告)号: | CN109841559A | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 刘东亮;缪炳有;滕乙超;魏瑀 | 申请(专利权)人: | 浙江荷清柔性电子技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/78 |
代理公司: | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人: | 舒丁 |
地址: | 310018 浙江省杭州市经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 超薄晶圆 划片 减薄 预设 铁环 晶圆 制备 制备方法工艺 第一表面 干法抛光 厚度波动 裂纹问题 芯片封装 需求选择 支撑作用 保护膜 粗磨 胶膜 流转 贴膜 细磨 移除 制程 切割 支撑 申请 应用 | ||
1.一种超薄晶圆的制备方法,其特征在于,包括:
提供晶圆(10),所述晶圆(10)具有相对设置的第一表面(110)与第二表面(120);
将所述第一表面(110)设置第一保护膜(20),将切割装置的切割面与所述第一保护膜(20)远离所述晶圆(10)的表面呈60°~85°进行切割,获得切割后的第二保护膜(210);
将所述晶圆(10)的所述第二表面(120)进行减膜,获得减膜后的第三晶圆(160);
将所述第三晶圆(160)远离所述第二保护膜(210)的表面采用固定环(30)进行绷膜,获得第一支撑膜(40);
根据所述固定环(30)对所述第一支撑膜(40)远离所述第三晶圆(160)的表面进行切割,获得切割后的第二支撑膜(410);
去除所述第三晶圆(160)的所述第二保护膜(210),获得超薄晶圆(100)。
2.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,在对所述第一保护膜(20)进行切割时,控制所述切割装置的切割温度在140℃~170℃内。
3.如权利要求2所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,沿所述晶圆(10)的边缘以30°/s的切割速度对所述第一保护膜(20)进行切割。
4.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,将所述第三晶圆(160)远离所述第二保护膜(210)的表面采用固定环(30)进行绷膜,获得第一支撑膜(40)包括:
根据第一预设厚度,采用砂轮直径为300mm,且粗粒度为325#~600#的金刚石砂轮,并以砂轮转速2000RPM~2400RPM,轴向进刀速度为1.5um/s~5um/s对所述晶圆(10)的所述第二表面(120)进行研磨,获得研磨后的第一晶圆(140);
根据第二预设厚度,采用砂轮直径为300mm,且粗粒度为2000#~8000#金刚石砂轮,并以砂轮转速2000RPM~3000RPM,轴向进刀速度为0.2um/s~0.4um/s对远离所述第二保护膜(210)的所述第一晶圆(140)的表面进行研磨,获得研磨后的第二晶圆(150);
根据第三预设厚度,对所述第二晶圆(150)进行研磨,获得减膜后的所述第三晶圆(160)。
5.如权利要求4所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,根据所述第三预设厚度,采用干式抛光磨轮方式,并以砂轮直径为450mm,磨轮转速为1500RPM~2500RPM,轴向进刀速度为0.1um/s~0.2um/s对所述第二晶圆(150)进行研磨,获得减膜后的所述第三晶圆(160)。
6.如权利要求4所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第一预设厚度的范围为所述晶圆(10)厚度与所述第二保护膜(210)厚度之和至所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与50um之和。
7.如权利要求6所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第二预设厚度的范围为所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与50um之和至所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与10um之和。
8.如权利要求7所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述第三预设厚度的范围为所述超薄晶圆(100)厚度、所述第二保护膜(210)厚度与10um之和至所述超薄晶圆(100)厚度与所述第二保护膜(210)厚度之和。
9.如权利要求1所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,所述超薄晶圆(100)的厚度范围为20um~40um。
10.如权利要求7所述的超薄晶圆的制备方法,其特征在于,,所述超薄晶圆(100)的厚度为35um。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江荷清柔性电子技术有限公司,未经浙江荷清柔性电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910181783.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基板承载桌
- 下一篇:隔离结构上的阻挡结构
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造