[发明专利]一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法

说明书

本发明公开了一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法，涉及电阻测量技术领域，包括电流传感器、显示屏、模糊控制器、键盘按钮、毫安表和惠斯通电桥电路，所述模糊控制器与所述电流传感器、所述显示屏和所述键盘按钮均为电连接；所述电流传感器与待测电阻电连接，所述待测电阻与所述毫安表和所述惠斯通电桥电路电连接，所述毫安表与所述惠斯通电桥电路电连接。本发明能够自动换挡，灵活性和智能性较高，能够测量高精度的电阻，测量误差较小，非常适合用于高精度电阻测量使用。

技术领域

本发明涉及电阻测量技术领域，特别涉及一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法。

背景技术

电阻是基本电参数之一，常在直流条件下测量，也有在交流情况下测量的。工程上常用的电阻范围为10的负七次方～10的负十五次方欧。在材料研制、基本研究或特殊情况下进行实验时，测量电阻的范围一般扩大到接近零欧至10 的负十八次方欧。

目前，现有的电阻测量装置，普遍智能性较低，不能自动换挡，灵活性较低，导致难以测量到高精度的电阻值，测量误差较大，所以，就需要一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法。

发明内容

本发明实施例提供了一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法，用以解决现有技术中存在的问题。

一种自动换挡高精度电阻测量装置及方法，包括电流传感器、显示屏、模糊控制器、键盘按钮、毫安表和惠斯通电桥电路，所述模糊控制器与所述电流传感器、所述显示屏和所述键盘按钮均为电连接；所述电流传感器与待测电阻电连接，所述待测电阻与所述毫安表和所述惠斯通电桥电路电连接，所述毫安表与所述惠斯通电桥电路电连接；

所述毫安表和所述待测电阻均与所述惠斯通电桥电路并联，所述惠斯通电桥电路包括开关K1_1、K1_2、K1_3、K1_4、K1_5、K1_6、K1_7、K1_8、K1_9、 K1_10、K1_11、K1_12，所述开关K1_1连接电阻R1，所述电阻R1并联电阻 R1-2和电源E1，所述电阻R1-2串联开关K1_5、电阻R1-3和开关K1-9，所述开关K1-9串联电阻R1-4和电源E1；

所述开关K1_2连接电阻R2，所述电阻R2并联电阻R2-2和电源E2，所述电阻R2-2串联开关K1_6、电阻R2-3和开关K1-10，所述开关K1-10串联电阻R2-4和电源E2；

所述开关K1_3连接电阻R3，所述电阻R3并联电阻R3-2和电源E3，所述电阻R3-2串联开关K1_7、电阻R3-3和开关K1-11，所述开关K1-11串联电阻R3-4和电源E3；

所述开关K1_4连接电阻R4，所述电阻R4并联电阻R4-2和电源E4，所述电阻R4-2串联开关K1_8、电阻R4-3和开关K1-12，所述开关K1-12串联电阻R4-4和电源E4。

较佳地，所述电阻R1包括开关S1-1、S1-2、S1-3、S1-4、S1-5、S1-6、S1-7、 S1-8、S1-9、S1-10，所述开关S1-1、电阻r1-1和继电器一并联后的结构串联所述开关S1-2、电阻r1-2和继电器二并联后的结构，然后串联所述开关S1-3、电阻r1-3和继电器三并联后的结构，然后串联所述开关S1-4、电阻r1-4和继电器四并联后的结构，然后串联所述开关S1-5、电阻r1-5和继电器五并联后的结构，然后串联所述开关S1-6、电阻r1-6和继电器六并联后的结构，然后串联所述开关S1-7、电阻r1-7和继电器七并联后的结构，然后串联所述开关S1-8、电阻r1-8 和继电器八并联后的结构，然后串联所述开关S1-9、电阻r1-9和继电器九并联后的结构，然后串联所述开关S1-10、电阻r1-10和继电器十并联后的结构。