[发明专利]一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法

说明书

本发明公开了一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法，首先外部指令解读模块(2)将外部指令输入模块(1)输入的指令(A)进行分解，形成三个指令：是否进行高频相移自动测试的指令(A1)、测试Y/Z方向的指令(A2)和角度偏移量(A3)。当是否进行高频相移的自动测试的指令(A1)为1时，角度参数调整模块(3)首先判断测试Y/Z方向的指令(A2)，若其为1，则根据角度偏移量(A3)确定Y方向的高频相移；若其为0，则根据角度偏移量(A3)确定Z方向的高频相移。角误差存储模块(4)存储Y/Z方向不同高频相移下的角误差。高频相移选择模块(5)比较存储的角误差大小，选择角误差最大值时对应的高频相移为最佳高频相移。该方法提高了测试效率。

技术领域

本发明涉及一种高频相移的测试技术领域，特别是一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法。

背景技术

目前，高频相移测试需要程序在线运行，手动修改偏移角度，测试效率很低，尤其在软件固化后，手动测试对不仅程序稳定性带来风险，而且测试效率大大降低。

发明内容

针对上述技术问题，本发明目的在于提供一种基于DSP高频相移的自动测试系统及方法，以解决手动修改角度导致的测试效率低下的问题。

本发明的基于DSP高频相移的自动测试系统包括：外部指令输入模块、外部指令解读模块、角度参数调整模块、角误差存储模块和高频相移选择模块；其中，外部指令输入模块输入指令，所述指令用于控制是否进行高频相移的自动测试、测试Y/Z方向和角度偏移量；外部指令解读模块将外部指令输入模块的输入指令进行分解以形成三个指令：是否进行高频相移自动测试的指令、测试Y/Z方向的指令和角度偏移量；所述进行高频相移自动测试的指令为1时进行高频相移的自动测试；所述进行高频相移自动测试的指令为0时不进行高频相移的自动测试；所述测试Y/Z方向的指令为1时进行Y方向高频相移的自动测试；所述测试Y/Z方向的指令为0时进行Z方向高频相移的自动测试；角度参数调整模块根据解读后的高频相移自动测试的指令、测试Y/Z方向的指令和角度偏移量，确定是否进行高频相移的自动测试、对Y还是Z方向进行测试和当前高频相移的度数，并进行高频相移调整；角误差存储模块存储Y/Z方向不同高频相移下的角误差；高频相移选择模块选择Y/Z方向角误差最大值时对应的高频相移为Y/Z方向最佳高频相移。

其中，外部指令解读模块将外部指令输入模块输入的指令进行分解的过程为：外部指令解读模块将外部指令输入模块输入的指令分解为32位整型数据，其中第8位为是否进行高频相移的自动测试的指令；第7位为测试Y/Z方向的指令；低6位为角度偏移量，角度偏移量为6位二进制数，它们代表0～35作为有效值，步进为10度，分别代表高频相移遍历0度～350度。

其中，角度参数调整模块调整角度参数的过程为：当是否进行高频相移的自动测试的指令为0时，不进行角度调整；当是否进行高频相移的自动测试的指令为1时，所述角度参数调整模块首先判断测试Y/Z方向的指令，若该测试Y/Z方向指令为1，则根据角度偏移量确定Y方向的高频相移；若该测试Y/Z方向指令为0，则根据角度偏移量确定Z方向的高频相移。

其中，角误差存储模块存储不同高频相移下角误差的过程为：当是否进行高频相移的自动测试的指令为0时，不进行角误差存储；当是否进行高频相移的自动测试的指令为1时，角误差存储模块存储Y/Z方向不同高频相移下的角误差。

其中，高频相移选择模块最佳高频相移选取的过程为：所述高频相移选择模块在预置角偏差不变的前提下，比较高频相移遍历0度～350度时的角误差大小，选择角误差最大值时对应的高频相移为最佳高频相移。