[发明专利]一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法

权利要求书

1.一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于：

针对构成指数型和联系统的每个单元产品，计算其融合等效为指数型和联系统的折合系数；

基于各单元产品的可靠性试验数据，利用所述折合系数，实现对指数型和联系统可靠度置信下限计算。

2.根据权利要求1所述的一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于，所述折合系数为：单元产品不可靠度点估计与指数型和联系统不可靠度点估计之比。

3.根据权利要求2所述的一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于：

所述单元产品不可靠度点估计为：1≤i≤N，其中，表示第i个单元产品在任务时间T的不可靠度点估计，t_i>0为第i个单元产品可靠性试验样本累计试验时间，r_i>0为第i个单元产品可靠性试验样本累计故障次数，N为组成指数型和联系统的单元产品的总数，N≥2；

所述指数型和联系统不可靠度点估计为：其中，α_i表示第i个单元产品的和联系数。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于：

所述对指数型和联系统可靠度置信下限计算为：根据各单元产品的可靠性试验数据中的样本累计试验时间t_i及所述折合系数，计算指数型和联系统等效可靠性试验时间t_和；根据各单元产品可靠性试验样本累计故障次数r_i，计算指数型和联系统等效故障次数r_和；基于所述等效可靠性试验时间t_和和等效故障次数r_和，计算指数型和联系统可靠度置信下限。

5.根据权利要求4所述的一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于：

所述指数型和联系统等效可靠性试验时间t_和为：其中，β_i为第i个单元产品可靠性试验数据转换为指数型和联系统等效可靠性试验数据的折合系数，

所述指数型和联系统等效故障次数为r_和为：

6.根据权利要求5所述的一种指数型和联系统可靠度置信下限计算方法，其特征在于：

所述计算指数型和联系统可靠度置信下限：

式中，R_和,γ为指数型和联系统在置信度为γ时的可靠度置信下限，其中，0<γ<1，表示自由度为2r_和+2的卡方分布对应概率为γ时的下侧分位数。