[发明专利]一种自动测试设备及自动测试系统在审
申请号: | 201910190570.4 | 申请日: | 2019-03-13 |
公开(公告)号: | CN109782155A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 张经祥;魏津;徐润生 | 申请(专利权)人: | 胜达克半导体科技(苏州)有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 刘明霞;娄晓丹 |
地址: | 215000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 自动测试设备 自动测试系统 被测信号 功能回路 地隔离 有效地 串扰 | ||
本发明实施例提供了一种自动测试设备和自动测试系统,所述自动测试设备包括被测信号回路和其他功能回路,其中所述被测信号回路与所述其他功能回路之间进行地隔离。本发明的实施例的自动测试设备和自动测试系统,由于不同回路之间进行了地隔离,有效地避免了信号之间的串扰,提高了信号质量,尤其是小信号的质量。
技术领域
本发明涉及测试领域,更具体地涉及一种自动测试设备及自动测试系统。
背景技术
自动测试设备(ATE,Automatic Test Equipment)是指在人极少参与或不参与的情况下,自动进行测量,处理数据,并以适当方式显示或输出测试结果的设备。与人工测试相比,自动测试设备省时、省力,能提高劳动生产率和产品质量。例如,对于半导体产业来说,自动测试设备意指集成电路(IC)自动测试机,用于检测集成电路功能的完整性,确保集成电路生产制造的品质,是集成电路生产制造的最后流程。
目前大部分自动测试设备采用信号共地模式,导致数字信号与模拟信号之间串扰大,信号噪声大,且电压不可堆叠。并且随着电子技术的发展,自动测试设备越来越趋向复杂和精密,干扰问题也日益突出。
因此,鉴于上述技术问题的存在,有必要提出一种新的自动测试设备及自动测试系统。
发明内容
在发明内容部分中引入了一系列简化形式的概念,这将在具体实施方式部分中进一步详细说明。本发明的发明内容部分并不意味着要试图限定出所要求保护的技术方案的关键特征和必要技术特征,更不意味着试图确定所要求保护的技术方案的保护范围。
考虑到上述问题而提出了本发明。根据本发明的一方面,提供了一种自动测试设备,所述自动测试设备包括被测信号回路和其他功能回路,其中所述被测信号回路与所述其他功能回路之间进行地隔离。
进一步地,所述被测信号回路包括多个功能单元,其中所述多个功能单元之间分别进行地隔离。
在一个实施例中,所述其他功能回路包括交直流转换单元,所述交直流转换单元包括交流部分和直流部分,所述交流部分和所述直流部分之间进行地隔离。
在一个实施例中,所述自动测试设备还包括多个直流-直流转换单元,每个所述直流-直流转换单元包括高压部分和低压部分,所述高压部分与所述低压部分进行地隔离。
在一个实施例中,所述地隔离包括各自连接不同的地线。
在一个实施例中,所述自动测试设备包括多个仪器板卡,各个仪器板卡的电压源的电压能够进行堆叠。
根据本发明的另一方面提供了一种自动测试系统,包括自动测试设备和计算设备,其中所述自动测试设备包括如上之一所述的自动测试设备。
在一个实施例中,所述计算设备与所述自动测试设备之间进行地隔离。
在一个实施例中,所述计算设备与所述自动测试设备之间采用光信号进行通信。
在一个实施例中,所述计算设备与所述自动测试设备之间采用光纤进行通信。
本发明的实施例的自动测试设备和自动测试系统,由于不同回路之间进行了地隔离,有效地避免了信号之间的串扰,提高了信号质量,尤其是小信号的质量。
附图说明
以下将结合附图对本发明实施例进行更详细的描述,本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显。附图用来对本发明实施例进行进一步的解释,该附图构成说明书的一部分,且与本发明实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中,相同的附图标记通常代表相同或相似的部件或步骤。
附图中:
图1是现有的自动测试设备的结构框图;
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