[发明专利]一种显示模组及终端有效

专利信息
申请号: 201910192213.1 申请日: 2019-03-14
公开(公告)号: CN109782503B 公开(公告)日: 2021-11-30
发明(设计)人: 王跃林;徐敬义;任艳伟;刘铁男;韩帅;郭智昂;张慧杰;窦艳秋;智国磊;刘鹏 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1368
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张京波;曲鹏
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 显示 模组 终端
【说明书】:

一种显示模组和终端,包括:两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关;其中,CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域,用于:输出进行CT测试的测试信号;源极开关用于:导通或断开用于CT测试的各源极走线,以传输来自CT单元的测试信号。本发明实施例避免了静电释放(ESD)和线路腐蚀导致的暗线风险,改善了因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。

技术领域

本文涉及但不限于显示器技术,尤指一种显示模组及终端。

背景技术

随着全面屏时代的到来,“刘海”和“水滴角”的显示屏设计被应用于主流的电子设备。由于集成电路(IC)对侧为凹形槽(又称为U形槽,是槽口如字母U的结构)设计,凹形槽位置涉及到电容补偿(源极(Source)走线与栅极(Gate)走线交叉,改善槽口(Notch)区对角带(Mura)不良)和左右两侧的Gate连通;参照相关设计,没有足够的空间排布盒测试(CT,CellTest)单元,因此,当前主要带凹形槽的显示屏,CT单元均设计在集成电路(IC)对侧,即盒(Cell)的单层区;图1为相关技术中显示模组的组成示意图,如图1所示,CT单元与盒测试正驱动(CTD-ODD)、盒测试负驱动(CTD-EVEN)及盒测试开关(CTSW)连接;显示模组在制样过程中,包括彩膜(CF)面(沿CF边界)切割、单层区擦拭清洁等工序均存在静电释放(ESD)击伤CT单元风险,使显示屏出现暗线不良问题。

发明内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本发明实施例提供一种显示模组及终端,能够避免静电释放ESD和线路腐蚀导致的暗线风险,改善因ESD造成CT单元击伤而产生的暗线不良。

本发明实施例提供了一种显示模组,包括:两个或两个以上盒测试CT单元和源极开关;其中,

CT单元设置于凹形槽的槽口(Notch)区域,用于:输出进行CT测试的测试信号;

源极开关用于:导通或断开用于CT测试的各源极走线,以传输来自CT单元的测试信号。

可选的,所述源极开关包括:

设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分,和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。

可选的,所述源极开关具体用于:

CT测试时,导通各所述源极走线,以传输来自所述CT单元的测试信号;

CT测试后,断开各所述源极走线,以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。

可选的,所述源极开关包括:薄膜晶体管(TFT)开关。

可选的,所有所述CT单元按照直线排布设置于所述分割线上方;或,

所述CT单元均排布设置于所述分割线上方。

另一方面,本发明实施例还提供一种终端,包括:包含显示模组的显示屏;其中,显示模组包括:

设置于凹形槽的槽口(Notch)区域的CT单元,用于:输出进行CT测试的测试信号;

源极开关,用于导通或断开用于CT测试的各源极走线,以传输来自CT单元的测试信号。

可选的,所述源极开关包括:

设置于靠近IC一侧的金属线下方的第一部分,和设置于凹形槽分割线下方的第二部分。

可选的,所述源极开关具体用于:

CT测试时,导通各所述源极走线,以传输来自所述CT单元的测试信号;

CT测试后,断开各所述源极走线,以使传输所述测试信号的各所述源极走线处于悬空状态。

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