[发明专利]一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法

权利要求书

1.一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于，包括以下步骤：

a、将多个磁钢沿轨道长度方向预定位置安装到轨道下方的地面上，磁钢靠近轨道的轨腰一侧，得到预定磁钢位置，将位移编码器安装到运行机构的车轮上，确定运行机构位移编码器的定位区域；

b、将静磁栅传感器安装到运行机构的车架下端，通过预定物理定位标记点来确定静磁栅定位点，通过预定物理校准标记点来确定静磁栅校准点；

c、标定位移编码器对应的运行机构的零点位置，零点位置标定后不再修改；标定位移编码器除零点位置以外任意一个磁钢位置对应的运行机构位置，得出运行机构位置与位移编码器码值信号的关系式；静磁栅传感器通过其下方的磁钢时，经过静磁栅校准点，就对位移编码器检测的位置进行一次校准，并更新运行机构位置与位移编码器码值信号的关系式；静磁栅传感器通过下一个磁钢时，经过静磁栅校准点，就对位移编码器检测的位置进行二次校准，并更新运行机构位置与位移编码器码值信号的关系式，完成运行机构行程及位置的检测校准控制。

2.根据权利要求1所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述步骤a中，确定运行机构位移编码器的定位区域是指根据预定磁钢位置，当静磁栅传感器行至磁钢上方，静磁栅传感器接收到磁钢输出的信号，读取此点位移编码器码值信号，获得位移编码器码值信号值，静磁栅传感器检测到磁钢开始输出信号至信号输出完毕的区域，即运行机构位移编码器的定位区域。

3.根据权利要求1所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述步骤b中，确定静磁栅定位点是指静磁栅传感器随运行机构移动到磁钢正上方时，静磁栅传感器与磁钢的垂直距离为1-15毫米，静磁栅传感器感应到磁钢的磁场信息，静磁栅传感器将在其本体上的不同位置感应出磁场信号，当行至预定物理定位标记点时，最终输出磁钢在静磁栅传感器下方的具体位置点，即静磁栅定位点。

4.根据权利要求1所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述步骤b中，确定静磁栅校准点是指静磁栅传感器随运行机构移动到磁钢正上方时，静磁栅传感器与磁钢的垂直距离为1-15毫米，静磁栅传感器感应到磁钢的磁场信息，静磁栅传感器将在其本体上的不同位置感应出磁场信号，当行至预定物理校准标记点时，最终输出磁钢在静磁栅传感器下方的具体位置点，即静磁栅校准点。

5.根据权利要求2所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述运行机构位置与位移编码器码值信号的关系式通过L＝Ln/(Xn-Xo)X-Ln*Xo/(Xn-Xo)计算确定，其中，Ln为预定磁钢位置，Xn为预定磁钢位置对应的位移编码器码值信号值。

6.根据权利要求1所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述位移编码器，用于安装到运行机构的车轮上，车轮带动位移编码器旋转，通过将旋转角度的检测转换成位移变化。

7.根据权利要求1所述的一种运行机构行程及位置的检测校准控制方法，其特征在于：所述静磁栅传感器，包括静磁栅源和静磁栅尺，静磁栅源沿静磁栅尺轴线作无接触相对运动时，由静磁栅尺解析出数字化位移信息。