[发明专利]一种空间光谱仪仪器扫描函数的更新方法及设备在审
申请号: | 201910195007.6 | 申请日: | 2019-03-14 |
公开(公告)号: | CN109883550A | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 汪俊锋;任维蒙;戴平 | 申请(专利权)人: | 安徽慧视金瞳科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42;G01J3/02 |
代理公司: | 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 | 代理人: | 金凯 |
地址: | 230000 安徽省合肥市黄*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱仪 线型函数 太阳光谱 定标数据 更新 光谱数据 实际测量 太阳模拟 仪器扫描 波段 光谱分析技术 遥感信息处理 读取 参考光谱 参数变化 差值比较 分辨率 演算 定标 光谱 轨高 测量 太阳 监督 | ||
1.一种空间光谱仪仪器扫描函数的更新方法,其特征在于,包括:
S1、获取待更新波段内的实际测量太阳光谱定标数据,以及读取地面实验室测量的光谱仪原始仪器线型函数数据;
S2、在所述太阳光谱定标数据对应的波段范围内,读取对应的Kurucz太阳模拟光谱数据;
S3、根据太阳光谱定标数据、光谱仪原始仪器线型函数数据和太阳模拟光谱数据,判断光谱仪仪器线型函数是否发生变化,若是执行步骤S4;
S4、改变光谱仪的狭缝模型得到不同的理论光谱,并使用迭代比较的方法,理论光谱与实测光谱数据进行对比,得到更新后的仪器线型函数。
2.如权利要求1所述的空间光谱仪仪器扫描函数的更新方法,其特征在于,所述步骤S3,具体包括:
S31、将所述太阳模拟光谱数据与所述原始仪器线型函数做卷积,得到理论光谱数据;
S32、在所述实际测量太阳光谱定标数据的n个光谱通道和所述理论光谱数据的n个光谱通道内分别选取m个独立特征峰;
S33、计算每个光谱通道实际测量太阳光谱定标数据的独立特征峰的半宽数值与理论光谱数据的独立特征峰的半宽数值的差值;
S34、对各个光谱通道的吸收峰半宽数值差值求平均,得到仪器线型函数变化量;
S35、判断所述原始仪器线型函数变化量是否超过阈值,若是则执行步骤S4。
3.如权利要求2所述的空间光谱仪仪器扫描函数的更新方法,其特征在于,所述的步骤S4具体包括:
S41、改变光谱仪的狭缝模型,将所述原始仪器线型函数与不同狭缝模型做卷积,得到不同狭缝模型切趾处理后的仪器线型函数;
S42、将所述Kurucz太阳光谱与同一波长范围内不同狭缝模型切趾处理后的仪器线型函数做卷积,得出不同狭缝参数的理论光谱;
S43、使用迭代比较的方法,不断将不同狭缝参数的理论光谱与同一波段范围内的所述实际测量太阳光谱定标数据进行对比;
S44、当某一狭缝参数下的理论光谱与所述实际测量太阳光谱形状吻合度最好时,将该理论光谱对应的仪器线型函数作为空间光谱仪更新后的仪器线型函数。
4.一种空间光谱仪仪器扫描函数的更新设备,其特征在于,包括:处理器和存储设备;
处理器,用于实现各指令;
存储设备,用于存储所述各指令,所述各指令由处理器加载并执行:
获取待更新波段内的实际测量太阳光谱定标数据,以及读取地面实验室测量的光谱仪原始仪器线型函数数据;
在所述太阳光谱定标数据对应的波段范围内,读取对应的Kurucz太阳模拟光谱数据;
根据太阳光谱定标数据、光谱仪原始仪器线型函数数据和太阳模拟光谱数据,判断光谱仪仪器线型函数是否发生变化;
若发生变化,则改变光谱仪的狭缝模型得到不同的理论光谱,并使用迭代比较的方法,理论光谱与实测光谱数据进行对比,得到更新后的仪器线型函数。
5.如权利要求4所述的空间光谱仪仪器扫描函数的更新设备,其特征在于,所述根据太阳光谱定标数据、光谱仪原始仪器线型函数数据和太阳模拟光谱数据,判断光谱仪仪器线型函数是否发生变化,具体包括:
将所述太阳模拟光谱数据与所述原始仪器线型函数做卷积,得到理论光谱数据;
在所述实际测量太阳光谱定标数据的n个光谱通道和所述理论光谱数据的n个光谱通道内分别选取m个独立特征峰;
计算每个光谱通道实际测量太阳光谱定标数据的独立特征峰的半宽数值与理论光谱数据的独立特征峰的半宽数值的差值;
对各个光谱通道的吸收峰半宽数值差值求平均,得到仪器线型函数变化量;
判断所述原始仪器线型函数变化量是否超过阈值,若是则更新仪器线型函数。
6.如权利要求5所述的空间光谱仪仪器扫描函数的更新设备,其特征在于,所述改变光谱仪的狭缝模型得到不同的理论光谱,并使用迭代比较的方法,理论光谱与实测光谱数据进行对比,得到更新后的仪器线型函数,具体包括:
改变光谱仪的狭缝模型,将所述原始仪器线型函数与不同狭缝模型做卷积,得到不同狭缝模型切趾处理后的仪器线型函数;
将所述Kurucz太阳光谱与同一波长范围内不同狭缝模型切趾处理后的仪器线型函数做卷积,得出不同狭缝参数的理论光谱;
使用迭代比较的方法,不断将不同狭缝参数的理论光谱与同一波段范围内的所述实际测量太阳光谱定标数据进行对比;
当某一狭缝参数下的理论光谱与所述实际测量太阳光谱形状吻合度最好时,将该理论光谱对应的仪器线型函数作为空间光谱仪更新后的仪器线型函数。
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