[发明专利]牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质

说明书

本发明适用于材料涂层防护技术领域，提供了一种牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质，其中，上述方法包括：在检测对象上设置金属导线和参比电极；采集金属导线和所述参比电极之间的电位差；根据开路电位及开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型；获取检测对象的开路电位阈值；根据开路电位阈值和涂层服役寿命评估模型，计算牺牲阳极金属涂层的服役寿命。由于在对不同工作环境的牺牲阳极金属涂层进行服役寿命评估时，分别配置不同的涂层服役寿命评估模型，使得本申请实施例提供的牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质能够准确预算涂层的服役寿命。

技术领域

本发明属于材料涂层防护技术领域，尤其涉及一种牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质。

背景技术

现有技术对涂层，例如牺牲阳极金属涂层，进行服役寿命评估时，一般采用以下三种评估方法：经验判断法、平均腐蚀速度计算法和剩余涂层厚度测量计算法。但是，目前的三种评估方法均存在明显的缺点，导致评估结果和实际的服役寿命期限相差较大，限制上述三种评估方法的应用范围。第一种经验判断法，存在个人的主观随意性，说服力差，且经验的积累需要一个长期的过程。第二种平均腐蚀速度计算法，依靠计算腐蚀失重量即阳极金属涂层的腐蚀失重量，在进行腐蚀失重速率换算时采用涂层的密度进行计算，即可得到阳极涂层损失的单位时间厚度损失速率。但是这种方法首先需要去除阳极涂层表面的腐蚀产物，而去除腐蚀产物的过程中采用的腐蚀介质会将一部分没有腐蚀的阳极涂层一块去掉，导致评估计算的腐蚀速率明显高于实际的腐蚀速率。第三种剩余涂层厚度测量计算法利用扫描电镜(scanning electron microscope扫描电子显微镜，简称SEM)检测阳极涂层的平均剩余厚度，利用平均剩余厚度和原始厚度的比值计算出涂层的平均腐蚀速率。此种方法首先需要根据O的浓度梯度划分腐蚀产物层和阳极涂层剩余厚度的界线，进而测量剩余阳极涂层的厚度。当 O的浓度梯度不存在或没有O的浓度梯度时，此种检测方法无效。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层寿命评估方法、终端设备及存储介质，以解决现有技术不能准确计算牺牲阳极金属涂层服役寿命的问题。

根据第一方面，本发明实施例提供了一种牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，包括：在检测对象上设置金属导线和参比电极；所述检测对象的表面涂覆有牺牲阳极金属涂层；采集所述金属导线和所述参比电极之间的电位差；所述电位差为所述检测对象的开路电位；记录所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间；根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型；获取所述检测对象的开路电位阈值；根据所述开路电位阈值和所述涂层服役寿命评估模型，计算所述牺牲阳极金属涂层的服役寿命。

本发明实施例提供的牺牲阳极金属涂层服役寿命评估方法，针对涂覆有牺牲阳极金属涂层的检测对象，能够根据其不同的工作环境，设置不同的涂层服役寿命评估模型。由于各个涂层服役寿命评估模型均以涂层服役时间为变量，并以检测对象的开路电位为因变量，因此，在确定的开路电位阈值下，可以通过涂层服役寿命评估模型计算得到开路电位阈值对应的涂层服役时间，即涂层的服役寿命。由于在对不同工作环境的牺牲阳极金属涂层进行服役寿命评估时，分别配置不同的涂层服役寿命评估模型，使得本申请实施例提供的涂层服役寿命评估方法能够准确预算各种牺牲阳极金属涂层的服役寿命，解决了现有技术中缺乏通用且计算结果准确的牺牲阳极金属涂层寿命评估技术的问题。

结合第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述根据所述开路电位及所述开路电位对应的涂层服役时间构建涂层服役寿命评估模型，包括：获取原始评估模型和多组检测数据；其中，任一组检测数据包括涂层服役时间和对应的开路电位；根据所述多组检测数据计算所述原始评估模型中的各个系数。