[发明专利]一种氮化铝膜及其制备方法和应用有效

专利信息
申请号: 201910197927.1 申请日: 2019-03-15
公开(公告)号: CN111690907B 公开(公告)日: 2023-04-18
发明(设计)人: 黄小辉;康建;郑远志;陈向东 申请(专利权)人: 马鞍山杰生半导体有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C30B25/18;C30B29/38;H01L33/00;H01L33/12
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 朱颖;刘芳
地址: 243000 安徽省马*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种氮化铝膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)控制温度为500-1000℃,压力为100-500mBar,在恒定温度下,向反应室通入三甲基铝、氨气以及含有X元素的化合物,在衬底层上生成第一(AlXn)N缓冲层;

2)对所述第一(AlXn)N缓冲层进行退火处理,得到(AlXn)N晶核,所述(AlXn)N晶核的密度为105个/cm2≤Q≤1010个/cm2

所述退火处理的温度为1200-1400℃,压力为100-200mBar,时间为5-200min;

3)控制温度为1100-1400℃,压力为30-200mBar,向所述反应室通入三甲基铝、氨气以及含有X元素的化合物,所述(AlXn)N晶核形成第二(AlXn)N缓冲层且生成覆盖在所述第二(AlXn)N缓冲层的(AlXm)N层;

10-6≤n,m≤1;

所述X元素选自镓、铟、铊、硅、锗、锡、铅中的一种或多种;

4)控制温度为1100-1400℃,压力为30-200mBar,向所述反应室通入三甲基铝以及氨气,在所述(AlXm)N层上生成AlN层;

循环执行步骤3)-步骤4)T次,T≥1;

所述第二(AlXn)N缓冲层、(AlXm)N层和AlN层的集合为所述氮化铝膜。

2.根据权利要求1所述的氮化铝膜的制备方法,其特征在于,所述(AlXm)N层的生长速度为2-5μm/h。

3.根据权利要求1所述的氮化铝膜的制备方法,其特征在于,所述第一(AlXn)N缓冲层的厚度为1~200nm。

4.根据权利要求3所述的氮化铝膜的制备方法,其特征在于,步骤1)中,所述三甲基铝的流量为1~500mL/min、氨气的流量为1000~100000mL/min、含有X元素的化合物的流量为1~100mL/min。

5.一种氮化铝膜,其特征在于,按照权利要求1-4任一所述的制备方法得到。

6.一种发光二极管,其特征在于,包括权利要求5所述的氮化铝膜。

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