[发明专利]支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法

说明书

本发明涉及串行非易失性存储控制器领域，具体是支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法，包括以下步骤：1)基于集成有存储控制器SoC芯片的测试，产生芯片唯一ID并存储于EFUSE中；2)基于上述产生的唯一ID，产生芯片确定的随机数；3)将通用串行非易失性存储控制器的发送FIFO拆分为地址命令FIFO与数据专用FIFO；4)将产生的随机数与拆分完成的FIFO输入进行异或逻辑处理完成实际数据的写入处理，同时对于接收FIFO的输出使用同一随机数进行异或逻辑处理得到实际的有效数据。本发明通过芯片ID的唯一性保证了随机数的唯一性，从而实现了该芯片对于外部串行非易失性存储的数据保护。

技术领域

本发明涉及串行非易失性存储控制器领域，具体是支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法。

背景技术

在数字控制领域及消费类无线通信领域的SoC芯片设计中，为了能够匹配芯片终端应用方案，需要提供基于非易失性存储的可扩展性开发支持。具体产品方案的应用程序及用户数据可以存储在该非易失性存储中。

目前，小型化的SoC芯片非易失性存储主要通过以下两种方案实现：1、芯片设计时集成非易失性存储(eflash)，晶圆厂生产的芯片(Die)即包含非易失性存储；2、通过芯片集成存储控制器，芯片与外部的非易失性存储互联，实现方案中非易失性存储的需求。考虑到生产、测试及方案开发成本因素，在消费类电子方案中多采用方案“2”的方式。同时，外部非易失性存储，以串行访问控制为主。

串行非易失性存储与SoC芯片的集成，可以基于PCB板载互联实现，也可以在SoC芯片封装时通过SIP方式互联。但是，二者的具体产品应用方案发布后，基于具体的产品，均可以通过剖析的方式获取非易失性存储中的数据。对于应用程序而言，即为复制方案的实现机制；对于里面存储的数据而言，即为用户数据的泄露。

应用程序的被复制，会导致产品的仿制，从而造成前期研发努力的损失与产品实际销售弊端；用户数据的泄露，会造成终端用户对产品品质的怀疑，使得产品竞争力的下降。总体上都会影响最初产品的定位与市场预期，从而造成资金与人力的损失。

因此，针对以上现状，迫切需要开发支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法，以克服当前实际应用中的不足。

发明内容

本发明的目的在于提供支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

支持数据保护功能的串行非易失性存储控制器设计方法，包括以下步骤：

1)基于集成有存储控制器SoC芯片的测试，产生芯片唯一ID并存储于EFUSE中；

2)基于上述步骤1)产生的唯一ID，产生芯片确定的随机数；

3)将通用串行非易失性存储控制器的发送FIFO拆分为地址命令FIFO与数据专用FIFO；

4)将步骤2)中产生的随机数与步骤3)中拆分完成的FIFO输入进行异或逻辑处理完成实际数据的写入处理，同时对于接收FIFO的输出使用同一随机数进行异或逻辑处理得到实际的有效数据，完成数据的保护与恢复。

作为本发明进一步的方案：所述步骤1)中：通过CP/FT测试产生芯片唯一的ID并存储于EFUSE中。

作为本发明进一步的方案：所述步骤1)中：在CP测试中，具体的WaferID与Die在整个Wafer上的具体坐标生成。

作为本发明进一步的方案：所述步骤2)中：使用伪随机数发生器产生一32bits的随机数。

作为本发明进一步的方案：所述步骤3)中：还采用基于读写控制逻辑，用于实现发送串行移位寄存器的分时读取。