[发明专利]一种同面阵列电容稳定成像方法在审
申请号: | 201910201192.5 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN109813772A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 温银堂;张玉燕;梁波;王震宇;任萍 | 申请(专利权)人: | 燕山大学 |
主分类号: | G01N27/22 | 分类号: | G01N27/22;G01N27/24;G06T11/00 |
代理公司: | 北京君泊知识产权代理有限公司 11496 | 代理人: | 王程远 |
地址: | 066004 河北*** | 国省代码: | 河北;13 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 电极 电容数据 图像重建 相邻电极 同面 间隔电极 电容 成像 图像 图像重建过程 阵列电极 贡献率 计算量 信噪比 传感器 剔除 筛选 重建 分类 清晰 | ||
本发明公开了一种同面阵列电容稳定成像方法,通过对同面阵列电极传感器中电极进行分类,将所有电极分为相邻电极对、相对电极对、以及间隔电极对,然后根据将不同电极对电容数据对图像重建的贡献率、电容数据的信噪比,筛选出相邻电极对和相对电极对,剔除间隔电极对;获取相邻电极对和相对电极对的电容数据,根据所述电容数据进行图像重建,获取重建后的图像。在缩减电容数据之后,进行图像重建,利用相邻和相对电极对的电容数据进行图像重建过程更加稳定,计算量大大降低,计算速度提高,并且能够较清晰的显示出试样的轮廓,图像质量有所提高。
技术领域
本发明涉及图像成像领域,尤其涉及一种同面阵列电容稳定成像方法。
背景技术
电容层析成像(Electrical Capacitance Tomography,ECT)是一种非接触性、响应快速、测量精度高的新型无损检测技术,现已广泛应用于工业管道/多相流监测等领域,被视为最具前景的多相流检测技术。ECT系统通常为圆周式电极分布结构,采用循环激励扫描方式,获得相应电极对之间的电容变化量,并利用相关图像重建算法,重构出被测物场的介质分布图像。然而在某些特殊检测条件下,被测物场几何空间受限,只能对其进行单面检测,因此一种由ECT发展而来的同面阵列电容成像传感技术应运而生。
同面阵列电容成像传感技术主要利用电场的边缘效应,即当材料内部属性发生变化时,如缺陷的存在,会改变电场线的分布,因此阵列电极的电容数据变化可以用来反映缺陷,再通过算法进行电容数据的图像重建。当采用同面阵列电极对被测目标进行测试时,在采集电容数据的过程中,由于同面阵列电极相对于传统圆周式电极分布结构,较大程度上缺失了被测场的空间信息,更容易产生电容数据不稳定、数量级较小、易受电极板位置影响及检测环境的噪声干扰等问题,因此会严重影响同面阵列电容的图像重建质量和稳定性。为了得到稳定的、高质量的被测场图像,需要进行同面阵列电极传感器的电容成像方法研究。
同面阵列电容图像重建的主要任务是由已知的电容值C反算出介电常数分布G。为提高图像重建质量,目前大多数在反问题的求解时通常采用一些优化算法,并按其原理可以归纳为以下两类:非迭代类算法和迭代类算法。非迭代类算法主要包括线性反投影(Linear Back Projection,LBP)和Tikhonov正则化法等。非迭代类算法通常具有成像速度快,实时性高的优点,但图像重建质量比较粗糙。迭代类图像重建算法是利用变量的初始值递推出新值,主要包括Landweber迭代法、牛顿法等,相比非迭代类算法,迭代类算法及智能优化类算法,往往可以重建出分辨率更为清晰的成像质量,但是存在运算速度较慢,耗时严重的缺点。
发明内容
针对上述缺陷或不足,本发明的目的在于提供一种同面阵列电容稳定成像方法。
为达到以上目的,本发明的技术方案为:
一种同面阵列电容稳定成像方法,包括:
1)、对同面阵列电极传感器的电极对进行编号、分类,将所有电极对分为相邻电极对、相对电极对、以及间隔电极对;
2)、选出所有的相邻电极对和相对电极对,剔除间隔电极对;
3)、获取相邻电极对和相对电极对的电容数据,根据所述电容数据进行图像重建,获取重建后的图像。
所述步骤1中对同面阵列电极传感器的电极对进行分类具体包括:
对同面阵列电极传感器选取其中一个电极,与该电极左右或上下相邻的电极形成相邻电极对;与该电极对角相邻的电极形成相对电极对;与该电极相间隔的电极形成间隔电极对;
依次对同面阵列电极传感器中所有的电极进行分类,获取所有的相邻电极对、相对电极对、以及间隔电极对。
所述电极对的电容数据包括获取电极对之间的电容变化量
其中,——电容变化量,
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于燕山大学,未经燕山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201910201192.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。