[发明专利]放射线检测器、放射线图像摄影装置以及制造方法

权利要求书

1.一种放射线检测器，具备：

基板，在具有微粒层的基材的与具有所述微粒层的面相反侧的面的像素区域，形成有对根据从放射线变换后的光而产生的电荷进行蓄积的多个像素，所述基材为可挠性且为树脂制，所述微粒层包含平均粒径为0.05μm以上且2.5μm以下的无机的微粒；

变换层，设置在所述基材的设置有所述像素区域的面，将所述放射线变换为光；和

增强基板，设置在层叠有所述基板以及所述变换层的层叠体的所述基板侧的面以及所述变换层侧的面的至少一方。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述基材在300℃～400℃下的热膨胀系数为20ppm/K以下。

3.根据权利要求1或2所述的放射线检测器，其中，

所述基材在厚度为25μm的状态下，满足400℃下的纵向MD方向的热收缩率为0.5％以下以及500℃下的弹性模量为1GPa以上的至少一方。

4.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述微粒包含原子序号比构成所述基材的元素大且原子序号为30以下的元素。

5.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板的弯曲弹性模量为150MPa以上且2500MPa以下。

6.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板的热膨胀系数相对于所述变换层的热膨胀系数之比为0.5以上且2以下。

7.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板的热膨胀系数为30ppm/K以上且80ppm/K以下。

8.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板包含具有屈服点的材料。

9.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板与所述基材相比刚性高。

10.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板的厚度比所述基材的厚度厚。

11.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述变换层覆盖所述像素区域，并且设置在所述基材的设置有所述像素区域的面的一部分的区域，

所述增强基板设置在比设置有所述变换层的区域大的区域。

12.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板设置在层叠有所述基板以及所述变换层的层叠体的所述基板侧的面以及所述变换层侧的面，

在所述变换层侧的面设置的增强基板的厚度比在所述基板侧的面设置的增强基板的厚度厚。

13.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述增强基板是将塑料作为材料的基板。

14.根据权利要求13所述的放射线检测器，其中，

所述塑料为聚碳酸酯以及聚对苯二甲酸乙二醇酯的至少一种。

15.根据权利要求13或14所述的放射线检测器，其中，

所述塑料为苯乙烯、丙烯酸、聚缩醛、以及尼龙的至少一种。

16.根据权利要求13所述的放射线检测器，其中，

所述塑料为聚丙烯、ABS、工程塑料、聚对苯二甲酸乙二醇酯、以及聚苯醚的至少一种。

17.根据权利要求13所述的放射线检测器，其中，

所述塑料为热可塑性的树脂。