[发明专利]一种光源光功率检测装置及激光光源在审
申请号: | 201910203216.0 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN109813425A | 公开(公告)日: | 2019-05-28 |
发明(设计)人: | 高文宏;郭泽彬 | 申请(专利权)人: | 北京镭创高科光电科技有限公司 |
主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04;H01S3/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆宗力;王宝筠 |
地址: | 100176 北京市北京经济技术*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 分光光束 光源光功率 检测装置 分光模块 激光光源 入射光线 检测光束 检测模块 出射口 出射 分光 光源 光功率检测 汇聚 工作功能 光线汇聚 人员定位 日常维护 设备维护 故障点 光功率 检测 预设 参考 传输 申请 | ||
1.一种光源光功率检测装置,其特征在于,包括:光线汇聚模块、分光模块和检测模块;其中,
所述光线汇聚模块,用于接收入射的入射光线,并将所述入射光线汇聚后想所述分光模块传输;
所述分光模块,用于将汇聚后的所述入射光线进行分光处理,形成第一分光光束和第二分光光束;所述第一分光光束从所述分光模块的第一出射口出射,所述第二分光光束从所述分光模块的第二出射口出射;所述第一分光光束的光通量与所述入射光线的光通量之比为预设值,所述预设值大于或等于90%;
所述检测模块,用于对所述第二分光光束进行处理,以获得检测光束,并根据所述检测光束和所述预设值确定所述入射光线的光功率。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述分光模块包括:耦合固定装置、窗口镜和出射耦合装置;其中,
所述耦合固定装置包括入射口、第一出射端和第二出射端;所述第一出射端为所述分光模块的第一出射口,所述第二出射端为所述分光模块的第二出射口;所述入射口用于接收所述入射光线;所述第一出射端用于供所述第一分光光束出射;所述第二出射端用于供所述第二分光光束出射;
所述窗口镜,用于透过部分所述入射光线,并反射其余所述入射光线,透射的所述入射光线形成所述第一分光光束,反射的所述入射光线形成所述第二分光光束;
所述出射耦合装置,设置于所述第二出射口中,用于接收所述第一分光光束并使所述第一分光光束出射。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述窗口镜包括:
平面镜和分别位于所述平面镜上下表面的增透膜。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述出射耦合装置为光纤插芯。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述检测模块包括:散射片和光敏传感器;其中,
所述散射片,用于对所述第二分光光束进行散射后获得所述检测光束;
所述光敏传感器,用于接收所述检测光束,并根据散射后的第二分光光束和所述预设值确定所述入射光线的光功率。
6.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述检测模块包括:散射片、衰减片光敏传感器;其中,
所述散射片,用于对所述第二分光光束进行散射后向所述衰减片传送;
所述衰减片,用于对散射后的第二分光光束进行衰减处理,以获得光通量位于所述光敏传感器量程内的所述检测光束;
所述光敏传感器,用于接收所述检测光束,并根据散射后的第二分光光束和所述预设值确定所述入射光线的光功率。
7.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述光敏传感器为单波长光敏传感器或色彩传感器。
8.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,还包括:补偿装置;
所述补偿装置的反射面垂直于所述窗口镜的反射面,且所述补偿装置的光轴中心与所述检测装置的光轴中心位于同一条直线上,所述补偿装置用于将所述第二分光光束反射向所述检测装置。
9.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括:与所述检测模块连接的显示装置;
所述显示装置,用于显示所述入射光线的光功率。
10.一种激光光源,其特征在于,包括:激光发射装置和如权利要求1-9任一项所述的光源光功率检测装置;
所述激光发射装置,用于出射单波长激光或多波长激光作为所述光源光功率检测装置的入射光线;
所述光源光功率检测装置,用于接收所述入射光线,并检测所述入射光线的光功率。
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