[发明专利]放射线检测器及其制造方法、放射线图像摄影装置在审
申请号: | 201910206421.2 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN110286400A | 公开(公告)日: | 2019-09-27 |
发明(设计)人: | 岩切直人;加藤宗贵;中津川晴康 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202;G01T1/208;A61B6/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 柯瑞京 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 柱状晶体 基板 放射线检测器 放射线图像摄影装置 挠曲抑制 闪烁体 挠曲 光电转换元件 可挠性 前端部 抑制基 像素 制造 | ||
提供一种放射线检测器及其制造方法、放射线图像摄影装置,放射线检测器包括:具有可挠性的基板;设置于基板且分别包含光电转换元件的多个像素;具有层叠在基板上的多个柱状晶体的闪烁体;以及抑制基板的挠曲的挠曲抑制构件。在将柱状晶体的高度的平均值设为L、将柱状晶体的半径的平均值设为r、将柱状晶体彼此的间隔的平均值设为d、将柱状晶体的前端部的角度的平均值设为Φ、将由于闪烁体的重量而在基板上产生的挠曲的曲率半径设为R时,挠曲抑制构件具有满足R≥L‑r/tanФ+4r·{(L‑r/tanФ)2‑(d/2)2}1/2/d的刚性。
技术领域
公开技术涉及放射线检测器及其制造方法、放射线图像摄影装置。
背景技术
作为与放射线图像摄影装置相关的技术,例如已知有以下的技术。在日本特开2012-173275号公报(专利文献1)中记载了一种放射线图像摄影装置,具备:放射线图像检测装置主体,其具有闪烁体及设置于闪烁体的放射线入射侧的光检测部;以及支承构件,其配置在放射线图像检测装置主体的放射线入射侧且对被摄物进行支承。光检测部具有:将荧光作为电信号来检测的薄膜部;以及设置在薄膜部的与闪烁体侧相反的一侧的加强构件。加强构件与支承构件接合,且沿着接合面紧密接触。
在日本特开2012-189487号公报(专利文献2)中记载了一种放射线摄影装置,具备:闪烁体面板,其具有闪烁体及支承闪烁体的支承基板;传感器面板,其具有对由闪烁体转换后的光进行检测的光传感器及设置有光传感器的传感器基板,该传感器面板通过第一粘接层而与闪烁体贴合;以及加强板,其通过第二粘接层而与支承基板贴合。
在日本特开2012-132768号公报(专利文献3)中记载了一种放射线检测面板,包含壳体、收容在壳体内的闪烁体、以及在壳体内配置于闪烁体的光射出侧的光检测部。壳体在被照射放射线的面设置有受到载荷而发生挠曲的顶板。闪烁体具有多个立起设置的柱状晶体,通过顶板的挠曲而产生形变。柱状晶体间的间隙在设置有柱状晶体的面内的周缘部比在中央部更大。
发明内容
发明要解决的课题
作为放射线图像摄影装置所使用的放射线检测器,已知有如下的放射线检测器,该放射线检测器包含:基板;设置于基板的表面且分别包含光电转换元件的多个像素;以及层叠在基板上的闪烁体。近年来,作为构成放射线检测器的基板的材料,使用了树脂薄膜等具有可挠性的材料。在基板具有可挠性的情况下,例如在放射线检测器的制造工序中,在对基板进行处理时,由于层叠在基板上的闪烁体的重量而可能使基板产生较大的局部挠曲。在闪烁体包含多个柱状晶体的情况下,当基板产生较大的挠曲时,相互相邻的柱状晶体彼此接触,可能会使闪烁体损伤。
作为公开技术的一个方面,目的在于,与不使用根据构成闪烁体的柱状晶体的高度、半径、前端部的角度及柱状晶体彼此的间隔而决定了刚性的挠曲抑制构件的情况相比,降低因闪烁体的重量产生的基板的挠曲所引起的闪烁体的损伤的风险。
用于解决课题的手段
公开技术的第一方式的放射线检测器包括:基板,其具有可挠性;多个像素,其设置于基板,且分别包含光电转换元件;闪烁体,其具有层叠在基板上的多个柱状晶体;以及挠曲抑制构件,其抑制基板的挠曲,在将柱状晶体的高度的平均值设为L、将柱状晶体的半径的平均值设为r、将柱状晶体彼此的间隔的平均值设为d、将柱状晶体的前端部的角度的平均值设为Φ、将由于闪烁体的重量而在基板上产生的挠曲的曲率半径设为R时,
挠曲抑制构件具有满足下式的刚性:
R≥L-r/tanΦ+4r×{(L-r/tanΦ)2-(d/2)2}1/2/d。
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