[发明专利]放射线检测器及其制造方法、放射线图像摄影装置

权利要求书

1.一种放射线检测器，包括：

基板，其具有可挠性；

多个像素，其设置于所述基板，且分别包含光电转换元件；

闪烁体，其层叠于所述基板；以及

挠曲抑制构件，其抑制所述基板的挠曲，

在将所述像素的尺寸设为X、将因所述基板的挠曲引起的所述像素的极限变形量设为Z_L、将因所述闪烁体的重量而在所述基板上产生的挠曲的曲率半径设为R时，

所述挠曲抑制构件具有满足下式的刚性：

R≥X²/2Z_L。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述闪烁体层叠在所述基板的第一面侧，

所述挠曲抑制构件层叠在所述基板的与第一面侧相反的一侧的第二面侧以及所述闪烁体的与所述基板相接的面侧的相反侧的面侧中的至少一方。

3.根据权利要求2所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件层叠在所述基板的所述第二面侧、以及所述闪烁体的与所述基板相接的面侧的相反侧的面侧的双方。

4.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件具有比所述基板高的刚性。

5.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件在比所述闪烁体延伸的范围更大的范围内延伸。

6.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述基板具有与可挠性的布线连接的连接区域，

所述挠曲抑制构件设置在覆盖所述连接区域的至少一部分及所述闪烁体的区域。

7.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件的弯曲弹性模量为1000MPa以上且3500MPa以下。

8.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件的热膨胀系数相对于所述闪烁体的热膨胀系数之比为0.5以上且2以下。

9.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件的热膨胀系数为30ppm/K以上且80ppm/K以下。

10.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述挠曲抑制构件构成为包含丙烯酸、聚碳酸酯及聚对苯二甲酸乙二醇酯中的至少一种。

11.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述放射线检测器还包括加强构件，该加强构件设置在跨越所述闪烁体的端部的区域，对所述挠曲抑制构件的挠曲抑制效果进行加强。

12.根据权利要求11所述的放射线检测器，其中，

所述加强构件具有比所述基板高的刚性。

13.根据权利要求11或12所述的放射线检测器，其中，

所述加强构件由与所述挠曲抑制构件相同的材料构成。

14.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述基板构成为包含树脂薄膜。

15.根据权利要求1所述的放射线检测器，其中，

所述基板构成为包含由具有微粒层的树脂材料构成的基材，该微粒层包含由平均粒径为0.05μm以上且2.5μm以下的无机材料构成的微粒，

所述微粒层设置在所述基板的与设置有所述多个像素的第一面相反的一侧的第二面侧。

16.根据权利要求15所述的放射线检测器，其中，

所述微粒包含原子序数比构成所述树脂材料的元素大且原子序数为30以下的元素。