[发明专利]电气外壳和测试电气外壳的密封性质的方法

权利要求书

1.一种电气外壳，包括至少一个开口和至少一个壁(5)，所述开口用于接收电缆和/或连接器，所述壁界定所述电气外壳(1)的内部容积(7)并具有测试通孔(9)，所述测试通孔使得可以测试所述电气外壳(1)的密封性质，所述测试孔(9)的尺寸和在所述壁(5)中的位置使得阻止对所述电气外壳(1)的内部部件的接取，所述内部部件设想为用于接收一个或多个带电元件。

2.根据权利要求1所述的电气外壳，其中所述测试孔(9)的位置和尺寸设计成满足2013年8月29日公布的国际电工委员会标准IEC 60529的IP-XXD级电气外壳(1)防护等级。

3.根据权利要求1或2所述的电气外壳，还包括止动元件(15)，其在所述电气外壳(1)内部位于所述测试孔(9)的端部(13)的对面，以便能够停止插塞(27)插入所述测试孔(9)中。

4.一种装置，包括根据权利要求1至3中任一项所述的电气外壳，其中所述插塞(27)是密封插塞(27)，其配置为一旦卡在所述电气外壳(1)的测试孔(9)中就会密封所述电气外壳(1)，并且其中所述密封插塞(27)的纵向长度小于所述电气外壳(1)的止动元件(15)与所述外部(11)壁(5)之间的距离。

5.根据权利要求4所述的装置，其中所述密封插塞(27)设置有头部(29)和本体(31)，使得所述密封插塞(27)的头部(29)面向所述止动元件(15)，并且使得所述密封插塞(27)的头部(29)的至少一个截面大于所述测试孔(9)的截面。

6.根据权利要求5所述的装置，其中所述插塞(27)的本体(31)设置有至少一个刀片(39a，39b，39c)。

7.根据权利要求4至6中任一项所述的装置，其中所述密封插塞(27)在所述测试孔(9)内主动锁定在所述电气外壳(1)上，使得在主动锁定配置中，所述密封插塞(27)的头部(29)在所述电气外壳(1)的止动元件(15)上和/或内部壁(25)上施加压力。

8.一种用于测试电气外壳的密封性质的方法，所述电气外壳的电缆布线以线束和/或电缆束的形式组装，并且所述电气外壳设置有密封性质测试孔(9)，所述方法包括以下连续步骤：

1)使用所述测试孔(9)测试所述电气外壳(1)的密封性质；

2)通过密封插塞(27)封闭所述测试孔(9)；以及

3)测试通过所述密封插塞(27)封闭的所述测试孔(9)的密封性质。

9.根据权利要求8所述的用于测试包括密封性质测试孔(9)的电气外壳的密封性质的方法，其中所述步骤1)和3)中的每一个包括通过施加流体对所述电气外壳(1)加压之后的压力测量。

10.根据权利要求8或9所述的用于测试包括密封性质测试孔(9)的电气外壳的密封性质的方法，其中所述步骤1)和3)中的每一个还包括通过施加流体对所述电气外壳(1)加压之后的体积测量和/或流量/时间测量。

11.根据权利要求9或10所述的用于测试包括密封性质测试孔(9)的电气外壳的密封性质的方法，其中所施加的流体是气体，特别是空气、氮气和/或氦气。

12.根据权利要求8或9所述的用于测试包括密封性质测试孔(9)的电气外壳的密封性质的方法，其中所述步骤1和3)中的每一个包括确定初始值和预定时间后测量的值之间的压力差异。

13.根据权利要求8或10所述的用于测试包括密封性质测试孔(9)的电气外壳的密封性质的方法，其中所述步骤1)和3)中的每一个还包括在对所述电气外壳(1)加压之后确定施加的流体的体积。