[发明专利]放射线检测器以及放射线图像拍摄装置在审

专利信息
申请号: 201910207654.4 申请日: 2019-03-18
公开(公告)号: CN110286402A 公开(公告)日: 2019-09-27
发明(设计)人: 牛仓信一;中津川晴康;赤松圭一 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G01T1/202 分类号: G01T1/202;G01T1/208;A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 基材 放射线检测器 传感器基板 放射线图像 拍摄装置 放射线 变换层 相反侧 像素 层叠方向 调整构件 界面调整 预先确定 电荷 中立面 对置 面侧 挠性 蓄积
【权利要求书】:

1.一种放射线检测器,具备:

传感器基板,其包含挠性的基材、以及设置于所述基材的第1面且形成有蓄积对应于从放射线变换的光而产生的电荷的多个像素的层;

变换层,其设置于形成所述像素的层中的设置所述基材的一侧的相反侧,将放射线变换成所述光;和

应力中立面调整构件,其设置于所述基材的所述第1面的相反侧的第2面侧,将应力中立面的位置从与所述传感器基板对置的所述变换层的面即界面调整到所述传感器基板以及所述变换层层叠的层叠方向的预先确定的范围内。

2.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述预先确定的范围是比不设置所述应力中立面调整构件的情况下的所述界面与所述应力中立面的距离短的范围。

3.根据权利要求1或2所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件至少设置于覆盖所述传感器基板和所述变换层对置的区域的区域。

4.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件的弯曲弹性模量是150MPa以上且2500MPa以下。

5.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件的材料包含聚碳酸酯、聚对苯二甲酸乙二醇酯以及低密度聚乙烯中的至少一种。

6.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件的热膨胀系数相对于所述变换层的热膨胀系数之比是0.5以上且4以下。

7.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件的热膨胀系数是30ppm/K以上且200ppm/K以下。

8.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述放射线检测器还具备:

紧贴层,其设置于所述界面,且与所述传感器基板以及所述变换层相接。

9.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述放射线检测器还具备:

缓冲层,其设置于所述传感器基板与所述变换层之间,对所述变换层的热膨胀系数与所述传感器基板的热膨胀系数之差进行缓冲。

10.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述应力中立面调整构件包含在所述层叠方向上层叠的功能不同的多个膜。

11.根据权利要求10所述的放射线检测器,其中,

所述多个膜包含应力中立面调整膜和带电防止膜。

12.根据权利要求11所述的放射线检测器,其中,

所述带电防止膜设置得比所述应力中立面调整膜更靠所述第2面侧。

13.根据权利要求10所述的放射线检测器,其中,

所述多个膜包含应力中立面调整膜和防湿膜。

14.根据权利要求13所述的放射线检测器,其中,

所述防湿膜设置得比所述应力中立面调整膜更靠所述第2面侧。

15.根据权利要求1所述的放射线检测器,其中,

所述基材是树脂制,且具有包含平均粒子径为0.05μm以上且2.5μm以下的无机的微粒子的微粒子层。

16.根据权利要求15所述的放射线检测器,其中,

所述基材在所述第2面侧具有所述微粒子层。

17.根据权利要求15或16所述的放射线检测器,其中,

所述微粒子包含原子序数比构成所述基材的元素大且原子序数为30以下的元素。

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